发明名称 大批量检测磁瓦的方法
摘要 本发明公开了一种大批量检测磁瓦的方法,它通过制作上、下限尺寸检具,两检具均包括中心的弧形拱高、两侧呈90°夹角的斜面、以及倒角平面,两检具的弧形拱高半径及弧长均与需检测磁瓦的内弧下限尺寸相同,弧形拱高的高度均与需检测的磁瓦的内弧拱高高度上限尺寸相同,两检具的倒角平面长度均取磁瓦倒角平面长度的下限尺寸,上、下限尺寸检具两侧呈90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长分别与磁瓦的上、下限弧长相同;将磁瓦分别置于两检具上,通过观测磁瓦与检具的间隙来判断磁瓦是否合格;本发明可检测出中心距、而且可检测出磁瓦内弧的半径、弧长和拱高误差是否符合要求,并提高了检测速度,具有操作误差小、可重覆性好、检测效率高的优点,保证了检测结果的准确性。
申请公布号 CN102087086B 申请公布日期 2012.10.24
申请号 CN201010598058.2 申请日期 2010.12.21
申请人 自贡市江阳磁材有限责任公司 发明人 袁昱;邓志刚
分类号 G01B5/14(2006.01)I;G01B5/12(2006.01)I;G01B5/20(2006.01)I;G01B5/02(2006.01)I 主分类号 G01B5/14(2006.01)I
代理机构 泰和泰律师事务所 51219 代理人 吴姗
主权项 一种大批量检测磁瓦的方法,其特征在于包括以下步骤:1)制作检具:制作一上限尺寸检具和一下限尺寸检具,两检具均包括中心的弧形拱高、两侧呈90°夹角的斜面、以及连接弧形拱高每端部与对应斜面端部的倒角平面,两检具的弧形拱高半径及弧长均与需检测磁瓦的内弧下限尺寸相同,弧形拱高的高度均与需检测的磁瓦的内弧拱高高度上限尺寸相同,两检具的倒角平面长度均取磁瓦倒角平面长度的下限尺寸,上限尺寸检具两侧呈90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长与需检测磁瓦的上限弧长相同,下限尺寸检具两侧呈90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长与需检测磁瓦的下限弧长相同;2)下限尺寸检具检测:将磁瓦的一斜面向下紧贴下限尺寸检具的对应斜面,观测磁瓦的另一斜面与下限尺寸检具的对应斜面是否有间隙,如有间隙,表示该磁瓦不合格;如无间隙,则继续观测磁瓦的倒角平面与该检具的倒角平面之间、以及磁瓦的内弧与检具的弧形拱高之间是否均有间隙,如均有间隙,该磁瓦通过本步骤;如二者之一无间隙,表示该磁瓦不合格;3)上限尺寸检具检测:将通过步骤2)的磁瓦的一端斜面向下紧贴上限尺寸检具的对应斜面,观测磁瓦的另一斜面与该检具的对应斜面是否有间隙,如无间隙,表示该磁瓦不合格;如有间隙,则继续观测:若磁瓦的倒角平面与检具的倒角平面之间有间隙、磁瓦的内弧中部与检具的弧形拱高无间隙,则表明该磁瓦最终合格;如观测到磁瓦的倒角平面与检具的倒角平面之间无间隙,或磁瓦的内弧中部与检具的弧形拱高之间有间隙,则表明该磁瓦均不合格。
地址 643200 四川省自贡市富顺县富世镇晨光科技园区