发明名称 基于p-型ZnSe纳米线/n-型Si异质结的光电探测器及其制备方法
摘要 本发明公开了一种基于p-型ZnSe纳米线/n-型Si异质结的光电探测器,其特征是光电探测器的结构层自下而上依次为:n-型掺杂Si片、感光层和石墨烯电极,感光层为p-型ZnSe纳米线,感光层与石墨烯电极之间为欧姆接触,在感光层的外围、位于n-型掺杂Si片与石墨烯电极之间设置有绝缘层,以绝缘层在n-型掺杂Si片与石墨烯电极之间进行绝缘。本发明能有效增强纳米光电探测器的电信号,提高其开关比,增大光电探测器感光层面积。
申请公布号 CN102751374A 申请公布日期 2012.10.24
申请号 CN201210243428.X 申请日期 2012.07.13
申请人 合肥工业大学 发明人 王莉;卢敏;罗林宝;吴春艳;胡继刚
分类号 H01L31/109(2006.01)I;H01L31/0336(2006.01)I;H01L31/0224(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I;B82Y15/00(2011.01)I 主分类号 H01L31/109(2006.01)I
代理机构 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 代理人 何梅生
主权项 基于p‑型ZnSe纳米线/n‑型Si异质结的光电探测器,其特征是所述光电探测器的结构层自下而上依次为:n‑型掺杂Si片(4)、感光层(3)和石墨烯电极(1),所述感光层(3)为p‑型ZnSe纳米线,所述感光层(3)与石墨烯电极(1)之间为欧姆接触,在所述感光层(3)的外围、位于n‑型掺杂Si片(4)与石墨烯电极(1)之间设置有绝缘层(2),以所述绝缘层(2)在n‑型掺杂Si片(4)与石墨烯电极(1)之间进行绝缘。
地址 230009 安徽省合肥市屯溪路193号