发明名称 | 瞬变电磁场的场均匀性的校准方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种瞬变电磁场的场均匀性的校准方法。该方法包括如下步骤:在待校准区域内选定一个参考点和多个测量点,参考点与多个测量点的位置不同;对每一个测量点,同时测量该测量点和参考点的电磁场,分别得到每一测量点的场强值和与该测量点相应的参考场强值;根据每一测量点的场强值和与该测量点相应的参考场强值计算该测量点的归一化场强值;根据所有测量点的归一化场强值得到待校准区域内瞬变电磁场的场均匀性。 | ||
申请公布号 | CN102749530A | 申请公布日期 | 2012.10.24 |
申请号 | CN201210209542.0 | 申请日期 | 2012.02.29 |
申请人 | 北京无线电计量测试研究所 | 发明人 | 姚利军;沈涛 |
分类号 | G01R29/08(2006.01)I | 主分类号 | G01R29/08(2006.01)I |
代理机构 | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人 | 王德桢 |
主权项 | 瞬变电磁场的场均匀性的校准方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:在待校准区域内选定一个参考点和多个测量点,所述参考点与所述多个测量点的位置不同;对每一个测量点,同时测量该测量点和所述参考点的电磁场,分别得到每一测量点的场强值和与该测量点相应的参考场强值;根据每一测量点的场强值和与该测量点相应的参考场强值计算该测量点的归一化场强值;根据所有测量点的归一化场强值得到所述待校准区域内瞬变电磁场的场均匀性。 | ||
地址 | 100854 北京市海淀区142信息408分箱 |