| 发明名称 | 基于SOBI及FastICA的同频信号相位差测量方法 | ||
| 摘要 | 一种基于SOBI及FastICA的同频信号相位差测量方法，包括如下步骤：步骤1：将被测信号x(n)扩展成3维观测信号矩阵X(n)；步骤2：对观测信号矩阵X(n)运行一次排序的无迭代式SOBI算法，得到分离矩阵W1；步骤3：将W1作为分离矩阵初始值，对观测信号矩阵X(n)运行一次FastICA算法，得到混合矩阵A及源分量矩阵S(n)；步骤4：根据混合矩阵A及源分量矩阵S(n)合成被测信号成分x′(n)；步骤5：比较被测信号x′(n)与标准信号的相位差，完成同频信号相位差测量。本发明提供的基于SOBI及FastICA的同频信号相位差测量方法，以降低对测量样本的要求，提高测量的准确性。 | ||
| 申请公布号 | CN102749514A | 申请公布日期 | 2012.10.24 |
| 申请号 | CN201210263999.X | 申请日期 | 2012.07.27 |
| 申请人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明人 | 龚国良;鲁华祥;边昳;陈旭;陈刚;张放;金敏;徐元 |
| 分类号 | G01R25/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R25/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 汤保平 |
| 主权项 | 一种基于SOBI及FastICA的同频信号相位差测量方法，包括如下步骤：步骤1：将被测信号x(n)扩展成3维观测信号矩阵X(n)；步骤2：对观测信号矩阵X(n)运行一次排序的无迭代式SOBI算法，得到分离矩阵W1；步骤3：将W1作为分离矩阵初始值，对观测信号矩阵X(n)运行一次FastICA算法，得到混合矩阵A及源分量矩阵S(n)；步骤4：根据混合矩阵A及源分量矩阵S(n)合成被测信号成分x′(n)；步骤5：比较被测信号x′(n)与标准信号的相位差，完成同频信号相位差测量。 | ||
| 地址 | 100083 北京市海淀区清华东路甲35号 | ||