发明名称 |
晶片自动测试分类机 |
摘要 |
本发明是一种晶片自动测试分类机,其是包含设在机台前端的供料匣、收料匣及空匣,所述的供料匣是供承置待测的晶片,收料匣是供承置不同等级完测的晶片,空匣则可接收供料匣处的空料盘或补充收料匣处所需的空料盘,另设在机台后端的测试装置,其是设有测试器及可升降的探针,二可移动在转运区及测试装置间的转运装置,其是交替的将待测晶片移载至测试装置以进行测试,并在完成测试后移载至转运区,一取放装置是将供料匣上待测的晶片取放在二转运装置,并将二转运装置上完测的晶片,依据测试的结果分别取放在不同等级的收料匣;如此,可确保测试品质及有效提升作业便利性及产能的使用效益。 |
申请公布号 |
CN101412027B |
申请公布日期 |
2012.10.24 |
申请号 |
CN200710163191.3 |
申请日期 |
2007.10.16 |
申请人 |
鸿劲科技股份有限公司 |
发明人 |
苏仁淙 |
分类号 |
B07C5/344(2006.01)I;B07C5/38(2006.01)I;B07C5/02(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I |
主分类号 |
B07C5/344(2006.01)I |
代理机构 |
北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 |
代理人 |
孙皓晨 |
主权项 |
一种晶片自动测试分类机,其特征在于:包含有:供料匣:是供收纳承置有待测晶片的料盘;收料匣:是依不同等级收纳承置有完测晶片的料盘;测试装置:是设有探针及测试器,以对待测的晶片进行测试作业;转运装置:包括有第一、二转运装置,所述的第一转运装置可移动在转运区及测试装置间,以将待测晶片移载至测试装置内进行测试作业,并在完成测试后将完测晶片移载至转运区,所述的第二转运装置可移动在另一转运区及所述测试装置间,以将另一批次的待测晶片移载至所述测试装置内进行测试作业,并在完成测试后将完测晶片移载至所述另一转运区,所述第一、二转运装置交替移载待测及完测的晶片,以供进行分类收料作业;取放装置:是设有取放器,以将供料匣的料盘上待测晶片取放在转运装置,并将转运装置上的完测晶片分类取放在收料匣的料盘上;中央处理器:是用以控制及整合各装置作动,以执行自动化作业。 |
地址 |
中国台湾台中县 |