发明名称 全方位落体侦测器与全方位落体侦测方法
摘要 本发明全方位落体侦测器包含一第一壳体与一浮子,该第一壳体内充填有液体,而该浮子设于第一壳体内且漂浮于该液体上,该浮子具有一第二壳体、一质块与一指示器,该指示器包括有一腔体设于该质块上该腔体具有至少一开口,且腔体内充填有一指示物。至少一封闭元件,系设于该开口上,使封闭该指示物于该腔体内当全方位落体侦测器被受力过,该封闭元件与该指示物会脱离,而使指示物散布于该腔体内;本发明复提供一种全方位落体侦测方法。
申请公布号 TWI375033 申请公布日期 2012.10.21
申请号 TW098111073 申请日期 2009.04.02
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 潘小曦;杨丰瑜;潘福隆
分类号 G01P15/135 主分类号 G01P15/135
代理机构 代理人 郭雨岚 台北市大安区仁爱路3段136号13楼;林发立 台北市大安区仁爱路3段136号13楼
主权项 一种全方位落体侦测器,包括:一第一壳体,为一中空状,该第一壳体内充填有一液体;以及一浮子,设于该第一壳体内并浮于该液体上,该浮子内具有一指示器,使该侦测器被受力后,该指示器之指示物散布于该指示器内部。如申请专利范围第1项所述之全方位落体侦测器,其中该第一壳体包括有一上壳体与一下壳体,该上壳体具有一阴螺纹,而该下壳体具有一阳螺纹,使该上壳体与该下壳体可螺合者。如申请专利范围第1项所述之全方位落体侦测器,其中该液体可为水。如申请专利范围第1项所述之全方位落体侦测器,其中该浮子更包括有一呈中空状之第二壳体、一质块及一指示器,该质块设置于该第二壳体的下方,而该指示器设置于该质块上。如申请专利范围第4项所述之全方位落体侦测器,其中该指示器包括有一腔体,该腔体具有至少一第一开口,且该腔体内充填有该指示物;及至少一第一封闭元件,系设于该第一开口上,使封闭该指示物于该腔体内,因此当该侦测器被受力后,该第一封闭元件脱离该第一开口,使该指示物散布于该腔体内。如申请专利范围第5项所述之全方位落体侦测器,其中该腔体包括有一第二开口及一第二封闭元件,系设于该第二开口,使将该指示物封闭于该腔体内。如申请专利范围第4项所述之全方位落体侦测器,其中该第二壳体为透明塑胶材料。如申请专利范围第1项所述之全方位落体侦测器,其中该指示物为一萤光粉。如申请专利范围第1项所述之全方位落体侦测器,其中该指示物为多数个颜色颗粒物。如申请专利范围第5项所述之全方位落体侦测器,其中该腔体之第一开口向内地且凹陷地形成一第一阶部,使该第一封闭元件可安装于该第一阶部上。如申请专利范围第6项所述之全方位落体侦测器,其中该腔体之第二开口向内地且凹陷地形成一第二阶部,使该第二封闭元件可安装于该第二阶部上。如申请专利范围第6项所述之全方位落体侦测器,其中该第一封闭元件与该第二封闭元件均为磁性体。如申请专利范围第6项所述之全方位落体侦测器,其中该第一封闭元件为磁性体,而该第二封闭元件为金属。如申请专利范围第5项所述之全方位落体侦测器,其中该腔体为塑胶。如申请专利范围第5项所述之全方位落体侦测器,其中该腔体为金属。如申请专利范围第5项所述之全方位落体侦测器,其中该腔体为磁性体。如申请专利范围第6项所述之全方位落体侦测器,其中该腔体为磁性体,而该第一封闭元件或第二封闭元件为金属。如申请专利范围第1项所述之全方位落体侦测器,其中该第一壳体为球形。如申请专利范围第1项所述之全方位落体侦测器,其中该浮子为球形。一种全方位落体侦测方法,包含:提供一全方位落体侦测器附着于一产品上,该全方位落体侦测器包含一本体,该本体设有一腔体、至少一开口及至少一封闭元件,其中,该封闭元件设于该开口上且将该腔体区隔出一第一空间及一第二空间;提供一指示物,并藉由该封闭元件使该指示物封闭于该腔体之第二空间内;该产品移位且使得该全方位落体侦测器受力;以及该封闭元件自该开口脱离,并使该指示物散布于该腔体之第一空间及第二空间内。如申请专利范围第20项所述之全方位落体侦测方法,其中该指示物为萤光粉。如申请专利范围第20项所述之全方位落体侦测方法,其中该指示物为具有颜色的颗粒物。
地址 新竹县竹东镇中兴路4段195号