发明名称 雷射光线与线性运动轴线之对正装置及其对正方法
摘要 一种雷射光线与线性运动轴线之对正装置及其对正方法,主要藉由精密孔轴线将虚拟的线性运动轴线具体实例化,再以精密量表及分厘卡精确定位,即可简易地与空间上的线性运动轴线对正,而使雷射光轴线可直观操作与此一具体实例化的线性运动轴线进行对正动作,以快速完成雷射光轴线与线性运动轴线的校正程序。
申请公布号 TWI375139 申请公布日期 2012.10.21
申请号 TW097141064 申请日期 2008.10.24
申请人 台智精密科技股份有限公司 发明人 徐永源;巫孟良
分类号 G05B19/25 主分类号 G05B19/25
代理机构 代理人 田国健 台中市南区忠明南路789号23楼
主权项 一种雷射光线与线性运动轴线之对正装置,其包含有:一基座,且该基座其中一侧边系构成一参考平面,而可与一运动轴线相对,并于该基座上设有一垂直枢轴;一L型直角座,系具有第一段以及一与该第一段相互垂直之第二段,且于该第一段上系设有一枢接孔,该L型直角座系以其枢接孔而与该基座上之垂直枢轴相互枢接,并于该基座与该L型直角座之第二段间设有一弹性体以顶撑该L型直角座,而该第一段系具有呈相互平行之第一平面与第二平面,且该第一平面系与该参考平面位在同一侧边上,一分厘卡系设于该基座一侧上,并恰与该L型直角座第一平面相互抵接,而可藉以调整该L型直角座之位置;一运动轴线实例器,系具有一与该L型直角座第二平面高精度配合之贴合平面,且于该运动轴线实例器贴合平面之相对侧系依序间隔设置有一第一矩块、一第二矩块以及一第三矩块,而该运动轴线实例器系置于该基座上,且该运动轴线实例器系以其贴合平面而与该L型直角座之第二平面相互抵接,并于该第二矩块与该第三矩块上系各设一通孔,且该二通孔之轴线系在同一轴线上,而构成有一中心轴线,且该中心轴线亦与该贴合平面相互平行,并于该第一矩块之平面上系设有一标定区,且由该二通孔所构成之中心轴线系相交于该标定区之交点上;藉此,当直线行进具可见性之雷射光通过该运动轴线实例器上之二通孔,并投射在该标定区之交点上时,即表示该雷射光与该中心轴线对正。依申请专利范围第1项所述之雷射光线与线性运动轴线之对正装置,其中,该L型直角座之第一段长度系大于该第二段长度。依申请专利范围第1项所述之雷射光线与线性运动轴线之对正装置,其中,该基座与该L型直角座之第二段相对之侧边系延伸有一支承矩块,并于该支承矩块与该L型直角座之第二段上系各设有一呈相对设置之支承孔,以可供装设该弹性体并顶撑该L型直角座之第二段。依申请专利范围第3项所述之雷射光线与线性运动轴线之对正装置,其中,该弹性体系由一支承柱与一弹簧构成,且该弹簧系套设于该支承柱上。依申请专利范围第1项所述之雷射光线与线性运动轴线之对正装置,其中,于该L型直角座其内缘相交面上系设有一圆柱孔。依申请专利范围第1项所述之雷射光线与线性运动轴线之对正装置,其中,该L型直角座第一平面上系设有一球体,且该L型直角座第二段之支承孔轴心系恰好穿过该球体之中心点,而该分厘卡前端系恰与该L型直角座第一平面上之球体相互抵接而呈单点接触。依申请专利范围第1项所述之雷射光线与线性运动轴线之对正装置,其中,该运动轴线实例器上之标定区系呈十字状。依申请专利范围第1项所述之雷射光线与线性运动轴线之对正装置,其中,该运动轴线实例器上之二通孔系具有相同直径。依申请专利范围第1项所述之雷射光线与线性运动轴线之对正装置,其中,该基座概呈平板状,而具有一底平面、一顶平面以及四个侧边,而该基座沿其顶平面周缘相互彼邻之三侧边上则依序设有一第一支承矩块、一第二支承矩块以及一第三支承矩块,且该第三支承矩块系与该参考平面位在同一侧边上,而于该参考平面之相对侧边上设有一水平向螺孔,该第二支承矩块上则设有一垂直向螺孔。依申请专利范围第9项所述之雷射光线与线性运动轴线之对正装置,其中,一水平主轴夹持器系与该水平向螺孔相互对接,且该水平主轴夹持器系呈L型而具有相互垂直之矩块,并于其中一矩块中系设有一与该水平向螺孔相互对应之锁固螺钉,而使该水平主轴夹持器得与该基座相互结合,且该水平主轴夹持器另一矩块上则设有一水平主轴夹持圆柱,而可供工具机主轴夹持。依申请专利范围第9项所述之雷射光线与线性运动轴线之对正装置,其中,该基座第二矩块之垂直向螺孔螺接有一垂直主轴夹持圆柱,以可供Z轴线性运动之主轴夹持,而该基座系翻转90度并锁固于该Z向主轴上,并于该Z向主轴下方装设有一雷射光折射镜组,以使水平射出之雷射光可向上折射90度,并与该参考平面相互平行。一种以申请专利范围第1项所述之对正装置所进行之对正方法,其包含有以下步骤:a.将该对正装置基座之参考平面与一线性运动轴线相对,且以目视方式使该基座的参考平面与线性运动轴粗略平行,并令该对正装置系可沿该线性运动轴移动;b.取一量表锁固于一固定座上,并将量表触针定于该L型直角座第一平面上,而后令该对正装置沿线性运动轴移动,以使该量表得检测该第一平面与该线性运动轴间之差值,并读取其数值;c.调整位于该基座上之分厘卡,以调整该L型直角座之位置,其调整量与量表所测得的数值相同且方向相同,此时,该线性运动轴轴线即会与该运动轴线实例器上之二通孔所形成之中心轴线一致;d.将一雷射干涉仪架设于一三角架平台上,并以目视方式调整由该雷射干涉仪所射出的可见性雷射光穿过该运动轴轴线实例器上的两通孔,并在标定区的交点上产生光点,则此时,雷射光即与中心轴线及线性运动轴轴线相互平行;e.最后将该运动轴轴线实例器由该基座取出,再将一光学反射镜组置于该基座上并将其固定,即完成雷射干涉仪于进行几何误差量测前的校正程序。依申请专利范围第12项所述之雷射光线与线性运动轴线之对正方法,其中,用以架设该雷射干涉仪之三角架平台系可进行上下左右平移及旋转的调整动作。
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