发明名称 点测机之薄型测试针座
摘要 一种点测机之薄型测试针座,包含:一置针单元及一探针。该置针单元包括一呈水平设置的第一夹板,及一与该第一夹板将该探针上下夹置的第二夹板。而该探针因应此种夹置方式而包括一位于前端且朝下延伸的点测尖端部。由于测试针座是采用上下夹针的组配关系,以能够有效地降低夹针处之厚度。
申请公布号 TWI375034 申请公布日期 2012.10.21
申请号 TW097118348 申请日期 2008.05.19
申请人 惠特科技股份有限公司 发明人 陈冠男;赖宏欣
分类号 G01R1/04 主分类号 G01R1/04
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 一种点测机之薄型测试针座,包含:一置针单元,包括一控制件、一连接于该控制件且呈水平设置的第一夹板,及一相对该第一夹板沿垂直方向间隔设置并呈水平的第二夹板;及一探针,夹置于该第一与第二夹板间,包括一位于前端且朝下延伸的点测尖端部。依据申请专利范围第1项所述的点测机之薄型测试针座,其中,该探针的点测尖端部与水平面间的夹角范围介于90度至120度。依据申请专利范围第1项所述的点测机之薄型测试针座,其中,该探针的尾端呈水平扁平状。依据申请专利范围第1项所述的点测机之薄型测试针座,其中,该置针单元的第一夹板概呈阶梯型,且具有一连接于该控制件的连接部,及一朝下转折地连接于该连接部并呈水平的夹针部。
地址 台中市西屯区工业区三十六路21号