发明名称 光学量测钢带平坦度的方法及系统
摘要 本发明主要是光学量测钢带平坦度的方法,包含设备准备步骤、预定范围量测步骤与平坦度得到步骤,设备准备步骤是将量测距离用的光学测距仪组设至可带动试件水平移动的工具机上,并将运算处理装置与光学测距仪资讯连接以运算处理光学测距仪量测得到的距离数据,预定范围量测步骤是令工具机带动待量测钢带移动,同时以该光学测距仪对待量测钢带的带面进行量测,而于运算处理装置中建立量测距离阵列,平坦度得到步骤是以运算处理装置运算量测距离阵列而得到待量测钢带的面平坦度。本发明还提供光学量测钢带平坦度的系统。
申请公布号 TWI374779 申请公布日期 2012.10.21
申请号 TW099102087 申请日期 2010.01.26
申请人 中国钢铁股份有限公司 发明人 吴立文;王朝华;侯振旁
分类号 B21B38/00 主分类号 B21B38/00
代理机构 代理人 高玉骏 台北市松山区南京东路3段248号7楼;杨祺雄 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 一种光学量测钢带平坦度的方法,包含:一设备准备步骤,准备一工具机、一量测距离用的光学测距仪,及一运算处理装置,该工具机包括一带动试件沿x-y平面位移之作业平台,及一与该作业平台具有高度差的加工组件,该光学测距仪装设于该加工组件上并可量测该光学测距仪至该作业平台的距离,该运算处理装置与该光学测距仪资讯连接以运算处理该光学测距仪量测得到的距离数据;一预定范围量测步骤,置放待量测钢带于该作业平台上,并令该作业平台沿平行x、y方向成连续S形作动以带动待量测钢板移动,并在该作业平台沿平行x方向作动时以该光学测距仪进行多数次量测,直到待量测钢带被该作业平台带动超出该光学测距仪的量测范围为止,该运算处理装置同步将该光学测距仪量测得到的多数笔距离数据建立成一量测距离阵列;及一平坦度得到步骤,以该运算处理装置运算该量测距离阵列得到待量测钢带的一朝向该光学测距仪的面平坦度。根据申请专利范围第1项所述的光学量测钢带平坦度的方法,还包含一基准距离得到步骤,以该光学测距仪量测该光学测距仪至该作业平台间的距离数据,再以该距离数据减去待量测钢带的厚度,而得到一基准距离。根据申请专利范围第2项所述的光学量测钢带平坦度的方法,该平坦度得到步骤是以该运算处理装置将该量测距离阵列中的每一距离数据分别减去该基准距离后,得到一运算用数据阵列,再对该运算用数据阵列进行内插法运算,得到该待量测钢带朝向该光学测距仪的面平坦度。根据申请专利范围第2项所述的光学量测钢带平坦度的方法,该平坦度得到步骤是以该运算处理装置将该量测距离阵列先进行内插法运算,得到一平均距离阵列后,再将该平均距离阵列中的每一数值分别减去该基准距离,而得到该待量测钢带朝向该光学测距仪的面平坦度。一种光学量测钢带平坦度的系统,包含:一工具机,具有一带动试件沿平行x、y方向成连续S形作动位移的作业平台,及一与该作业平台具有高度差的加工组件;一光学测距仪,装设于该加工组件上并在该作业平台沿平行x方向作动时进行多数次量测至该作业平台的距离,直到待量测钢带被该作业平台带动超出该光学测距仪的量测范围为止;及一运算处理装置,与该光学测距仪资讯连接以运算处理该光学测距仪量测得到的距离数据。根据申请专利范围第5项所述的光学量测钢带平坦度的系统,其中,该工具机为一铣床,该作业平台为一工作台,该加工组件为一夹持铣刀的铣床夹具。根据申请专利范围第6项所述的光学量测钢带平坦度的系统,其中,该光学测距仪为一雷射测距仪。根据申请专利范围第7项所述的光学量测钢带平坦度的系统,其中,该运算处理装置为一个人电脑。
地址 高雄市小港区中钢路1号