| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen eines Tamperschutzes eines Feldgeräts, umfassend die Schritte Anordnen zumindest eines Prüfelements im Material eines Gehäuses des Feldgeräts, erstes Beaufschlagen eines Prüfelements mit einem ersten Prüfsignal, erstes Messen des ersten Prüfsignals zur Ermittlung eines physikalischen Fingerabdrucks, Speichern des physikalischen Fingerabdrucks, zweites Beaufschlagen des Prüfelementes mit einem zweiten Prüfsignal, zweites Messen des zweiten Prüfsignals, Vergleichen des zweiten Prüfsignals mit dem physikalischen Fingerabdruck und, falls das zweite Prüfsignal von dem physikalischen Fingerabdruck abweicht, Ausgeben eines Tampersignals. Die Erfindung betrifft ebenfalls ein Feldgerät mit Tamperschutz. |
