发明名称 | 非接触式磁性颗粒检查设备 | ||
摘要 | 本发明涉及非接触式磁性颗粒检查设备。一种非接触式磁性颗粒检查设备包括测试物品支承和操纵系统,测试物品支承和操纵系统具有沿着第一轴线延伸的第一轨道、沿着第一轴线延伸的第二轨道,以及沿着第二轴线延伸的第三轨道。第三轨道包括通过中间部分延伸到第二端的第一端。第一端安装到第一轨道上,而第二端安装到第二轨道上。安装夹具安装到第三轨道上。安装夹具包括测试物品安装系统和测试物品定向系统。测试物品定向系统构造成和设置成在磁场内选择性地操纵测试物品。 | ||
申请公布号 | CN102735744A | 申请公布日期 | 2012.10.17 |
申请号 | CN201210114999.3 | 申请日期 | 2012.04.11 |
申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | R·W·伯格曼 |
分类号 | G01N27/82(2006.01)I | 主分类号 | G01N27/82(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 李强;谭祐祥 |
主权项 | 一种非接触式磁性颗粒检查设备(2),包括:测试物品支承和操纵系统(34),其包括沿着第一轴线延伸的第一轨道(38)、沿着所述第一轴线延伸的第二轨道(39),以及沿着第二轴线延伸的第三轨道(70),所述第三轨道(70)具有通过中间部分(43,49,74)延伸到第二端(42,48,73)的第一端(41,47,72),所述第一端(41,47,72)安装到所述第一轨道(38)上,而所述第二端(42,48,73)安装到所述第二轨道(39)上;以及安装到所述第三轨道(70)上的安装夹具(90),所述安装夹具(90)包括测试物品安装系统(93)和测试物品定向系统(95),所述测试物品定向系统(95)构造成和设置成在磁场(25)内选择性地操纵测试物品(114)。 | ||
地址 | 美国纽约州 |