| 发明名称 | 均化芯片内元件效能的方法以及集成电路芯片的布局 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种均化芯片内元件效能的方法以及集成电路芯片的布局。该方法首先提供集成电路芯片的布局，其包括多个功能电路区块，再于该多个功能电路区块间的场区内布设冗置扩散图案，接着，在该多个功能电路区块间的该场区内布设冗置栅极图案，使得该冗置栅极图案与该冗置扩散图案彼此完全重叠。 | ||
| 申请公布号 | CN102738057A | 申请公布日期 | 2012.10.17 |
| 申请号 | CN201110286870.6 | 申请日期 | 2011.09.23 |
| 申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 蒋裕和;陈铭聪;连万益;许智凯;侯俊良 |
| 分类号 | H01L21/70(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I;H01L27/02(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/70(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 彭久云 |
| 主权项 | 一种均化芯片内元件效能的方法，包括：提供集成电路芯片的布局，其包括多个功能电路区块；于该多个功能电路区块间的场区内布设冗置扩散图案；以及于该多个功能电路区块间的该场区内布设冗置栅极图案，使得该冗置栅极图案与该冗置扩散图案彼此完全重叠，其中该冗置栅极图案的面积小于或等于该冗置扩散图案的面积。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹科学工业园区 | ||