一种吸波涂层测厚仪的校准和测量方法

摘要

本发明公开了一种吸波涂层测厚仪的校准和测量方法，通过采用函数模型，即拟合曲线y=a/(K-x)+b来对吸波涂层的厚度进行计算，测量出吸波涂层的厚度y。a、K和b为需要确定的系数，校准的目的就是确定这三个系数。对于确定厚度范围的吸波涂层，并在一定硬件条件下，由这三个参数即可比较准确地计算涂层厚度，同时，采用本发明的校准方法得到的这三个参数很好的反映了电压值x和涂层厚度y的关系。因此，吸波涂层测厚仪的测量精度。

主权项

一种吸波涂层测厚仪的校准和测量方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）、校准时，使用厚度为yi标准吸波涂层块，采集对应的反映吸波涂层厚度的电压值xi，得到数据组(xi,yi)，其中i＝1,2,…,n，n为数据组数量，由数据组(xi,yi)计算得到乘积zi=xi·yi；首先令 A = x 1 , z 1 , 1 x 2 , z 2 , 1 · · · x n , z n , 1 , B = y 1 y 2 · · · y n 解线性方程组 ( A T A ) · D E F = A T B , 得到矩阵 D E F , 其中，矩阵AT为矩阵A的转置矩阵；然后，通过算式K=1/E，b=‑D·K,a=K·(F‑b)，求得参数：a、b、K；（2）、测量时，根据采集到的反映吸波涂层厚度的电压值x，通过拟合曲线y=a/(K‑x)+b，计算出吸波涂层的厚度y。