| 发明名称 | 质量分析装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种排热效果及重量平衡良好的小型质量分析装置。该质量分析装置是将重量件配置在高度尺寸H小于横宽尺寸W且进深尺寸D小于该高度尺寸H的箱体(100)的，并在横宽方向的两侧设置将多个电路基板9(50)分散收放的电路基板收放部(60)，该重量件包括：真空室(10)；使该真空室(10)成为真空的真空泵(15)；放入测定的试样并使其气化的试样插入部(30)；使气化的试样离子化并提供给真空室(10)的离子化部；以及与真空室(10)连接的离子检测器(25)。 | ||
| 申请公布号 | CN102737951A | 申请公布日期 | 2012.10.17 |
| 申请号 | CN201210031337.X | 申请日期 | 2012.02.13 |
| 申请人 | 株式会社日立高新技术 | 发明人 | 能田弘行;大沼满;佐藤庸子;石黑浩二;诸熊秀俊;大月繁夫;衣斐奈美 |
| 分类号 | H01J49/00(2006.01)I;H01J49/02(2006.01)I | 主分类号 | H01J49/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 钟晶;於毓桢 |
| 主权项 | 一种质量分析装置，其特征在于：在箱体的中央配置重量件，并在该箱体的两侧具备将多个电路基板分开收放的电路基板收放部，该重量件包括：真空室、使该真空室成为真空的真空泵、导入测定的试样并使其气化的试样导入部、使该气化了的试样离子化并提供给所述真空室的离子化部、以及与所述真空室连接的离子检测器。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||