发明名称 |
CT系统的散射校正方法及CT系统 |
摘要 |
一种CT系统的散射校正方法,包括以下步骤:获取亮场图像;将散射校正器放置于被扫描物体与探测器之间,进行等角度圆周扫描得到衰减投影图像;分别对被扫描物体和散射校正器进行等角度圆周扫描得到投影图像集和散射校正图像;根据所述亮场图像、散射校正图像以及衰减投影图像生成散射强度分布图;通过所述投影图像集与散射强度分布图之差得到校正后的投影图像集。上述CT系统的散射校正方法及CT系统中,通过将散射校正器置于被扫描物体与探测器之间来消除散射的影响,大大地减少了扫描时间和处理的数据量,有效地提高了效率和精度。 |
申请公布号 |
CN101987021B |
申请公布日期 |
2012.10.17 |
申请号 |
CN201010574162.8 |
申请日期 |
2010.12.06 |
申请人 |
中国科学院深圳先进技术研究院 |
发明人 |
胡战利;夏丹;桂建保;邹晶;戎军艳;张其阳;郑海荣 |
分类号 |
A61B6/03(2006.01)I |
主分类号 |
A61B6/03(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
吴平 |
主权项 |
一种CT系统的散射校正方法,包括以下步骤:获取亮场图像;将散射校正器放置于被扫描物体与探测器之间,进行等角度圆周扫描得到衰减投影图像;分别对被扫描物体和散射校正器进行等角度圆周扫描得到投影图像集和散射校正图像;根据所述亮场图像、散射校正图像以及衰减投影图像生成散射强度分布图;所述根据所述亮场图像、散射校正图像以及衰减投影图像生成散射强度分布图的步骤为:通过遗传算法从散射校正图像中得到各个投影圆的中心坐标;从亮场图像中得到与所述各个投影圆相对应的初始射线强度,并从散射校正图像中得到与所述各个投影圆相对应的穿过散射校正器后的射线强度以及校正的总射线强度;从投影图像集中获取物体总射线强度;通过所述初始射线强度、穿过散射校正器后的射线强度、校正的总射线强度以及物体总射线强度得到衰减投影图像中的散射值分布;对所述散射值分布进行二维插值及角度插值得到散射强度分布图;通过所述投影图像集与散射强度分布图之差得到校正后的投影图像集。 |
地址 |
518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号 |