发明名称 半导体器件的制造方法、基板处理装置以及半导体器件
摘要 本发明提供一种半导体器件的制造方法、基板处理装置以及半导体器件。实现具有高介电常数且在高温状态下稳定的电容绝缘膜的形成。所述半导体器件的制造方法通过进行以下工序来形成规定的膜,该工序包括:向收容基板的处理室供给包含第一元素的第一原料,使第一原料吸附于在基板的表面上;在使第一原料进行吸附之后,向处理室供给包含第二元素的第二原料,使第二原料吸附在基板的表面上;向处理室供给包含第三元素的第三原料,来对基板的表面进行改性;以及去除处理室内的环境气体,其中,相对于吸附在基板的表面上的第一原料的饱和吸附量,调整第一原料的吸附量和第二原料的吸附量,由此控制膜中的第二元素的含有量。
申请公布号 CN102741981A 申请公布日期 2012.10.17
申请号 CN201180007356.2 申请日期 2011.01.20
申请人 株式会社日立国际电气 发明人 山崎裕久
分类号 H01L21/205(2006.01)I;H01L21/31(2006.01)I;H01L21/316(2006.01)I 主分类号 H01L21/205(2006.01)I
代理机构 北京市金杜律师事务所 11256 代理人 陈伟;孟祥海
主权项 一种半导体器件的制造方法,其通过进行以下工序来形成规定的膜,该工序包括如下步骤:向收容基板的处理室供给包含第一元素的第一原料,使上述第一原料吸附在上述基板的表面上的步骤;在使上述第一原料吸附之后,向上述处理室供给包含第二元素的第二原料,使上述第二原料吸附在上述基板的表面上的步骤;向上述处理室供给包含第三元素的第三原料,来对上述基板的表面进行改性的步骤;以及去除上述处理室内的环境气体的步骤,在该半导体器件的制造方法中,相对于吸附在上述基板的表面上的上述第一原料的饱和吸附量,调整上述第一原料的吸附量和上述第二原料的吸附量,由此控制上述膜中的第二元素的含有量。
地址 日本东京都