| 发明名称 | 密度测量系统以及密度的测量方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种能够容易且准确地测量气体的密度的密度测量系统。该密度测量系统具有：测量气体的散热系数或者热传导率的测量值的测量部(301)；保存散热系数或者热传导率与密度的相关关系的存储装置(402)；和基于气体的散热系数或者热传导率的测量值和相关关系，计算出气体的密度的测量值的密度计算部(305)。 | ||
| 申请公布号 | CN102735579A | 申请公布日期 | 2012.10.17 |
| 申请号 | CN201210075003.2 | 申请日期 | 2012.03.20 |
| 申请人 | 阿自倍尔株式会社 | 发明人 | 大石安治 |
| 分类号 | G01N9/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N9/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人 | 肖华 |
| 主权项 | 一种密度测量系统，其特征在于，包括：测量部，所述测量部测量气体的散热系数或者热传导率的测量值；存储装置，所述存储装置保存所述散热系数或者热传导率与密度的相关关系；和密度计算部，所述密度计算部基于所述气体的散热系数或者热传导率的测量值和所述相关关系，计算出所述气体的密度的测量值。 | ||
| 地址 | 日本东京都千代田区丸之内2丁目7番3号 | ||