发明名称 |
阻变存储器单元及其制造方法 |
摘要 |
一种阻变存储器单元及其制造方法,该阻变存储器单元包括具有顶电极、底电极以及形成在所述顶电极和底电极之间的阻变层的阻变存储器,具有源极、漏极和栅极的MOS管。所述阻变存储器的底电极由硅基材料形成,并且所述MOS管的源极连接到所述底电极。本发明的阻变存储器单元能够利用传统的CMOS工艺及设备进行制造,因而能够简化工艺步骤,降低制造成本,便于大规模生产。 |
申请公布号 |
CN102738390A |
申请公布日期 |
2012.10.17 |
申请号 |
CN201110090961.2 |
申请日期 |
2011.04.12 |
申请人 |
北京大学 |
发明人 |
康晋锋;陈冰;高滨;张飞飞;陈沅沙;刘力锋;刘晓彦;韩汝琦 |
分类号 |
H01L45/00(2006.01)I;H01L27/24(2006.01)I;H01L21/822(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I |
主分类号 |
H01L45/00(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
宋焰琴 |
主权项 |
一种阻变存储器单元的制造方法,所述阻变存储器单元包括具有顶电极、底电极以及形成在所述顶电极和底电极之间的阻变层的阻变存储器,以及具有源极、漏极和栅极的MOS管,所述方法包括下述步骤:在一硅基衬底上进行P型掺杂;在所述硅基衬底上要形成阻变存储器的第二区域上进行P型掺杂或N型掺杂以形成底电极;在所述底电极上形成一层或多层金属氧化物材料以形成阻变层;在所述阻变层上淀积导电材料以形成顶电极;在所述硅基衬底上要形成MOS管的第一区域上淀积绝缘介质以形成栅介质层;在所述栅介质层上淀积导电材料以形成栅极;在所述第一区域的硅基衬底上进行N型掺杂以形成源极和漏极;在所述底电极和所述源极之间形成连接线,以连接所述底电极和所述源极。 |
地址 |
100871 北京市海淀区颐和园路5号 |