| 发明名称 | 贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法，该方法包含在不使液晶面板驱动的状态下，从一个面对贴合有偏振片的液晶面板进行光照射，对来自另一个面的透射光进行检测，并进行信号处理的步骤，该方法包含通过照射可见光进行的检测和通过照射近红外线进行的检测。利用此方法能够无遗漏地检测出缺陷。 | ||
| 申请公布号 | CN102741684A | 申请公布日期 | 2012.10.17 |
| 申请号 | CN201180008299.X | 申请日期 | 2011.02.02 |
| 申请人 | 住友化学株式会社 | 发明人 | 井村圭太;渡边康弘;四宫由隆 |
| 分类号 | G01N21/88(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/88(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人 | 肖华 |
| 主权项 | 一种贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包含在不使液晶面板驱动的状态下，从一个面对贴合有偏振片的液晶面板进行光照射，对来自另一个面的透射光进行检测，并进行信号处理的步骤，所述方法包含通过照射可见光进行的检测和通过照射近红外线进行的检测。 | ||
| 地址 | 日本东京都中央区新川二丁目27番1号 | ||