MODIFICACION DE PUNTAS DE MICROSCOPIA DE FUERZAS ATOMICAS MEDIANTE DEPOSITO DE NANOPARTICULAS CON UNA FUENTE DE AGREGADOS.
摘要
The present invention relates to a method for covering Atomic Force Microscopy (AFM) tips by depositing a material in the form of nanoparticles with an aggregate source.
申请公布号
ES2369943(B1)
申请公布日期
2012.10.15
申请号
ES20100030712
申请日期
2010.05.13
申请人
CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC)
发明人
ROMAN GARCIA, ELISA LEONOR;MARTINEZ ORELLANA, LIDIA;DIAZ LAGOS, MERCEDES;HUTIEL, YVES
