发明名称 雕刻刀具几何参数量测方法
摘要 本发明系一种雕刻刀具几何参数量测方法,其步骤包含:影像二值化、取得雕刻刀具轮廓座标点资料、参数计算、建构数学方程式、获得雕刻刀具几何参数,其中,利用最小平方法,建构雕刻刀具影像边缘及中心线之线性方程式,再依据各边缘与中心线之线性方程式,计算该雕刻刀具之角度及长度等参数。
申请公布号 TWI374253 申请公布日期 2012.10.11
申请号 TW097140478 申请日期 2008.10.22
申请人 国立云林科技大学 发明人 林瑞璋;王永成;何祥裕;张杰诚
分类号 G01B11/26 主分类号 G01B11/26
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项 一种雕刻刀具几何参数量测方法,其步骤包含:撷取影像并二值化,其系以一影像撷取装置取得一雕刻刀之数位影像后,再将该数位影像执行一二值化处理而为一雕刻刀具影像;取得雕刻刀具边缘座标点资料,取得该雕刻刀具影像于一座标系统的边缘端点座标;建构数学方程式,建构该雕刻刀具影像之各个边缘以及一中心线的线性方程式;参数计算,依据各边缘的线性方程式,以联立方程式计算其交点之座标;以及获得雕刻刀具几何参数,依据交点之座标,取得各边缘以及该中心线之间的夹角关系,并计算交点间的距离取得尺寸参数。如申请专利范围第1项所述之雕刻刀具几何参数量测方法,其中,该建构数学方程式步骤中之各个边缘以及该中心线的线性方程式系采用一最小平方和方法取得。如申请专利范围第1或2项所述之雕刻刀具几何参数量测方法,其中,该撷取影像并二值化系先将该雕刻刀之数位影像予以灰阶化处理后,设定一灰阶值,并逐一判断该灰阶影像之每个像素超过该灰阶值与否而分别转换为黑色像素或白色像素。如申请专利范围第2项所述之雕刻刀具几何参数量测方法,其中,该建构数学方程式步骤中所建立的四个边缘以及该中心线的公式分别为:i>Y/i>2=i>m/i>2i>X/i>+i>c/i>2;i>Y/i>3=i>m/i>3i>X/i>+i>c/i>3;i>Y/i>4=i>m/i>4i>X/i>+i>c/i>4;i>Y/i>5=i>m/i>5i>X/i>+i>c/i>5;以及i>Y/i>1=i>m/i>1i>X/i>+i>c/i>1;其中,上列公式之常数m2~m5以及c2~c5系以最小最小平方和方法计算取得,而该常数m1、c1则依据下列公式计算而得:i>m/i>1=(i>m/i>4+i>m/i>5)/2;以及i>c/i>1=(i>c/i>5-i>c/i>4)/2+i>c/i>4。如申请专利范围第4项所述之雕刻刀具几何参数量测方法,其中:以公式i>Y/i>2=i>m/i>2i>X/i>+i>c/i>2以及i>Y/i>4=i>m/i>4i>X/i>+i>c/i>4进行联立方程式计算可取得该雕刻刀具之其中两个边缘之交点座标;以及以公式i>Y/i>3=i>m/i>3i>X/i>+i>c/i>3以及i>Y/i>5=i>m/i>5i>X/i>+i>c/i>5进行联立方程式计算可取得该雕刻刀具之另外两个边缘之交点座标。如申请专利范围第4项所述之雕刻刀具几何参数量测方法,其中该获得雕刻刀具几何参数之步骤,其包含计算该雕刻刀具影像之一刀端斜切角(i>α/i>):@sIMGCHAR!d10018.TIF@eIMG!其中,XA、YA、XD、YD分别为该雕刻刀具影像之刀刃两端点的座标数值。
地址 云林县斗六市大学路3段123号