发明名称 | 使用磁间距损耗评估数据存储设备的方法和系统 | ||
摘要 | 本发明涉及一种使用磁间距损耗评估数据存储设备的方法和系统。一种评估磁记录系统的性能的方法包括:在时间t1测量第一组有限脉冲响应滤波器抽头值,在时间t2测量第二组有限脉冲响应滤波器抽头值,其中时间t2在时间t1之后,以及使用所述第一组抽头值和所述第二组抽头值计算实际损耗参数。所述方法然后将所述实际损耗参数与总体有效损耗阈值相比较。 | ||
申请公布号 | CN102005210B | 申请公布日期 | 2012.10.10 |
申请号 | CN201010266276.6 | 申请日期 | 2010.08.27 |
申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | E·R·克里斯腾森;W·S·恰尔内斯基 |
分类号 | G06F12/16(2006.01)I | 主分类号 | G06F12/16(2006.01)I |
代理机构 | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人 | 于静;杨晓光 |
主权项 | 一种评估数据存储设备的性能的方法,所述方法包括:建立总体有效损耗参数阈值;确定所述数据存储设备的实际总体有效损耗参数;如果所述实际总体有效损耗参数大于所述总体有效损耗参数阈值,则在运行上使所述数据存储设备停止服务;其中确定实际总体有效损耗参数包括:在时间t1测量第一多个有限脉冲响应FIR滤波器抽头;以及通过计算所述第一多个FIR滤波器抽头的傅立叶变换确定第一FIR传递函数;在时间t2测量第二多个FIR滤波器抽头,其中时间t2在时间t1之后;通过计算所述第二多个FIR滤波器抽头的傅立叶变换确定第二FIR传递函数;使用所述第一FIR传递函数和所述第二FIR传递函数确定时间t2与时间t1之间的FIR幅度响应比;使用华莱士间距损耗函数以及所述时间t2与时间t1之间的FIR幅度响应比来计算所述实际有效损耗参数。 | ||
地址 | 美国纽约 |