发明名称 用于操作存储设备的方法和装置
摘要 一种用于操作具有磁带(TP)和磁头(HU)的存储设备的方法,其中所述磁头(HU)包括第一和第二读取元件(RE1、RE2)。每个读取元件(RE1、RE2)均可操作以检测特定伺服带(SP)的伺服模式。所述第一和所述第二读取元件(RE1、RE2)以这样的方式排列:当所述磁带(TP)沿预定纵向方向(X)移动时,所述磁带(TP)首先经过两个读取元件(RE1、RE2)中的一个并随后经过两个读取元件(RE1、RE2)中的另一个。确定所述磁带(TP)沿所述纵向方向(X)的磁带传送方向(TPDIR)。当所确定的磁带传送方向(TPDIR)表示所述磁带(TP)首先经过所述第一读取元件(RE1)并随后经过所述第二读取元件(RE2)的方向时,根据所确定的磁带传送方向(TPDIR)选择所述第一读取元件(RE1)。否则选择所述第二读取元件(RE2)。根据所选择的读取元件确定位置误差信号(PES1)。相对于预定横向参考点(REF),根据所确定的位置误差信号(PES1)估计所选择的读取元件的纵向位置(x1)处的估计的横向磁道位置(d<sub>est</sub>)。相对于所述预定参考点(REF),以这样的方式估计未选择的读取元件的纵向位置(x2)处的另一估计的横向磁道位置<img file="dda00001934597800011.GIF" wi="208" he="76" />所述另一估计的横向磁道位置<img file="dda00001934597800012.GIF" wi="168" he="76" />变成所估计的横向磁道位置(d<sub>est</sub>)的时延后的表示。
申请公布号 CN102725792A 申请公布日期 2012.10.10
申请号 CN201180007181.5 申请日期 2011.01.27
申请人 国际商业机器公司 发明人 E·S·埃莱夫特里乌;W·哈伯尔勒;J·耶利托;A·潘塔兹
分类号 G11B5/584(2006.01)I 主分类号 G11B5/584(2006.01)I
代理机构 北京市中咨律师事务所 11247 代理人 于静;杨晓光
主权项 1.一种用于操作具有磁带(TP)和磁头(HU)的存储设备的方法,其中所述磁头(HU)包括第一读取元件(RE1)和第二读取元件(RE2),其中每个读取元件(RE1、RE2)均可操作以检测沿所述磁带(TP)的纵向扩展存储在所述磁带(TP)上的特定预定伺服带(SP)的预定伺服模式,其中所述第一和所述第二读取元件(RE1、RE2)以这样的方式排列:当所述磁带(TP)以预定纵向方向(X)移动时,所述磁带(TP)首先经过两个读取元件(RE1、RE2)中的一个并随后经过两个读取元件(RE1、RE2)中的另一个,其中-确定所述磁带(TP)沿所述纵向方向(X)的磁带传送方向(TPDIR),-当所确定的磁带传送方向(TPDIR)表示所述磁带(TP)首先经过所述第一读取元件(RE1)并随后经过所述第二读取元件(RE2)的方向时,根据所确定的磁带传送方向(TPDIR)选择所述第一读取元件(RE1),否则选择所述第二读取元件(RE2),-根据所选择的读取元件确定位置误差信号(PES1),其中所述位置误差信号(PES1)表示所选择的读取元件的横向位置与所述特定伺服带(SP)上的预定横向参考位置(r<sub>y</sub>)之间的横向距离,-根据所确定的位置误差信号(PES1)估计所估计的横向磁道位置(d<sub>est</sub>),所估计的横向磁道位置(d<sub>est</sub>)表示所述伺服带(SP)上相对于所选择的读取元件的纵向位置(x1)处的预定横向参考点(REF)的横向参考位置(r<sub>y</sub>),-相对于所述预定参考点(REF),以这样的方式估计未选择的读取元件的纵向位置(x2)处的另一估计的横向磁道位置<img file="FDA00001934597500011.GIF" wi="208" he="77" />所述另一估计的横向磁道位置<img file="FDA00001934597500012.GIF" wi="169" he="76" />变成所估计的横向磁道位置(d<sub>est</sub>)的时延后的表示,-根据所述另一估计的横向磁道位置<img file="FDA00001934597500013.GIF" wi="170" he="77" />确定控制信号(u),其中经由所述控制信号(u)控制所述磁头(HU)的横向磁头位置(y)。
地址 美国纽约