一种应用近红外光谱分析技术鉴别卷烟糖料质量的方法

摘要

本发明公开了一种应用近红外光谱分析技术鉴别卷烟糖料质量的方法。首先将某品牌卷烟合格糖料的光谱数据存入计算机，应用TQ analyst7.1软件中的相似度匹配的定性分析方法建立该品牌卷烟糖料的相似度匹配模型，经计算得到该品牌卷烟糖料的相似度匹配临界值。在鉴别糖料质量时，应用同样方法采集待鉴别糖料的光谱数据，并计算待鉴别糖料的光谱相似度匹配值，当待鉴别糖料的相似度匹配值≥该品牌卷烟糖料的相似度匹配临界值时鉴定为合格，否则即为不合格。该鉴别方法所需样品量较少，鉴别过程无需前处理及制样程序，鉴别过程简单，非常适合在烟草行业进行推广，在卷烟糖料质量稳定性控制中具有良好的应用前景。

主权项

一种应用近红外光谱分析技术鉴别卷烟糖料质量的方法，包括以下步骤：（1）光谱数据采集：将某品牌卷烟合格的糖料样品装入小试管中，置于透射样品架上采集糖料样品的近红外透射光谱数据，每个样品进行10次重复数据采集，并将所采集的光谱数据存入计算机；光谱采集方式为：透射光谱采集模式；扫描范围：4000～10000cm‑1；分辨率：8 cm‑1；扫描次数：16次；每次采集样品光谱前均须采集背景光谱；（2）模型构建：应用TQ analyst7.1软件中的相似度匹配的定性分析方法建立该卷烟品牌糖料的相似度匹配模型；（3）相似度匹配临界值计算：以相似度匹配模型为基础，运用TQ analyst7.1软件计算该卷烟品牌糖料的光谱相似度匹配值SMV，并对该卷烟品牌糖料的SMV值进行统计分析，分析SMV数据分布的范围，确定SMV的最下限数值Min；同样地，批量采集同一企业生产的非该品牌卷烟糖料的光谱数据，并对非该品牌卷烟糖料的SMV值进行计算，对所得到的SMV值进行统计分析，分析SMV数据分布的范围，确定SMV的最上限数值Max；经计算得到该卷烟品牌糖料的相似度匹配临界值CV：CV＝（Min+ Max）/2（4）鉴别：重复步骤（1），采集待鉴别糖料的的光谱数据，以该卷烟品牌糖料的相似度匹配模型为基础，通过TQ analyst7.1软件计算待鉴别卷烟糖料的SMV，当待鉴别卷烟糖料的SMV≥CV时鉴定为该糖料质量合格，否则为不合格。