发明名称 |
控制集成电路制造程序的结果参数的方法 |
摘要 |
一种控制集成电路制造程序的结果参数的方法。首先取得一制程的与该结果参数相关的至少一第1变量的数值,再利用此第1变量与结果参数的关系式,由第1变量的数值计算结果参数的预估值与目标植之间的差值。接着对具有与该结果参数相关的至少一第2变量的一后续制程进行修正操作,其包括依据前述差值及第2变量与结果参数的关系式,控制该后续制程以调整第2变量,藉由第2变量对该结果参数的影响来缩减该差值。上述至少一第1变量及至少一第2变量包括二或更多种不同的物理量。 |
申请公布号 |
CN101571714B |
申请公布日期 |
2012.10.03 |
申请号 |
CN200810095990.6 |
申请日期 |
2008.04.30 |
申请人 |
联华电子股份有限公司 |
发明人 |
马宏 |
分类号 |
G05B19/418(2006.01)I;H01L21/00(2006.01)I |
主分类号 |
G05B19/418(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
蒲迈文 |
主权项 |
一种控制集成电路制造程序的结果参数的方法,该集成电路制造程序中有N个制程与该结果参数相关,其中第i制程包括与该结果参数相关的至少一第i变量,任一第i变量有一标准值Vi‑0,且与该结果参数之间有一关系式,这些变量包括二或更多种不同的物理量,而在每一个变量皆具有其标准值的理想状况下,该结果参数会具有一目标值P0,该方法包括:令j=k(1≤k≤N‑1),且预估的一累积参数偏差值ΔPC=0;a.取得第j制程的第j变量的数值Vj‑r;b.计算Vj‑r与Vj‑0的差值ΔVj‑r;c.利用第j变量与该结果参数的关系式,由ΔVj‑r计算该结果参数的一预估变化值ΔPj,并将ΔPj累加到ΔPC上;d.利用第j+1变量与结果参数的关系式,由ΔPC推算可补偿ΔPC的第j+1变数的修正值ΔV(j+1)‑d,其中,根据该差值ΔVj‑r和修正值ΔV(j+1)‑d控制第j+1制程以调整其变量的值,以藉由第j+1制程的变量对该结果参数的影响来缩减该差值ΔVj‑r;e.将j值加1;以及如果k≠N‑1,即重复依序进行上述步骤a‑e至少一轮,直到j=N即结束。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区 |