发明名称 |
具有各向异性磁阻效应的锰氧化物外延薄膜及其制备方法与应用 |
摘要 |
本发明公开了一种具有大各向异性磁阻效应的锰氧化物外延薄膜及其制备方法与应用。该薄膜,是由NdGaO3单晶基片和在所述NdGaO3单晶基片上外延生长的La0.67Ca0.33MnO3薄膜组成;所述NdGaO3单晶基片的晶面取向为001方向。其制备方法,包括如下步骤:利用脉冲激光沉积的方法,在NdGaO3单晶基片上外延生长La0.67Ca0.33MnO3薄膜,沉积结束后先进行原位退火降至室温,再于氧气气氛中进行退火,得到所述锰氧化物外延薄膜。本发明提供的锰氧化物外延薄膜,其各向异性磁阻效应从对磁场角度的灵敏度和温度稳定性上优于同类薄膜,在磁传感领域具有广阔的应用前景。 |
申请公布号 |
CN101775644B |
申请公布日期 |
2012.10.03 |
申请号 |
CN201010110878.2 |
申请日期 |
2010.02.10 |
申请人 |
中国科学技术大学 |
发明人 |
王凌飞;黄振;吴文彬 |
分类号 |
C30B23/02(2006.01)I;C30B33/02(2006.01)I;G01R33/09(2006.01)I |
主分类号 |
C30B23/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 |
代理人 |
关畅 |
主权项 |
锰氧化物外延薄膜在制备各向异性磁阻传感器中的应用;所述锰氧化物外延薄膜,是由NdGaO3单晶基片和在所述NdGaO3单晶基片上外延生长的La0.67Ca0.33MnO3薄膜组成;所述NdGaO3单晶基片的晶面取向为001方向;所述NdGaO3单晶基片的厚度为0.3‑0.5毫米,所述La0.67Ca0.33MnO3薄膜的厚度为20‑45纳米。 |
地址 |
230026 安徽省合肥市金寨路96号中国科技大学科技处 |