发明名称 |
RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法 |
摘要 |
本发明为一种RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统及方法,由标准测试环境、读写器发射天线、信号源发射天线、接收天线、电子标签、读写器天线支架、信号源天线支架、接收天线支架、待测读写器、信号源、频谱分析仪、控制计算机组成,其方法是通过人为施加功率、频率可控的RFID读写器模拟邻道干扰信号,统计在可接受读取率下的最大邻道干扰强度,从而科学的、可重复的对RFID读写器的抗邻道干扰能力进行评价,在相同的可接受读取率下,邻道干扰越强就说明该待测读写器的抗邻道干扰能力越强。通过模拟RFID读写器的邻道干扰对读写器的读取率进行测试,为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。 |
申请公布号 |
CN101931472B |
申请公布日期 |
2012.10.03 |
申请号 |
CN200910087129.X |
申请日期 |
2009.06.10 |
申请人 |
中国科学院自动化研究所 |
发明人 |
刘禹;关强;刘怀达;赵健 |
分类号 |
H04B17/00(2006.01)I;G06K7/00(2006.01)I;G01R31/302(2006.01)I |
主分类号 |
H04B17/00(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
梁爱荣 |
主权项 |
一种RFID读写器抗邻道干扰能力的基准测试系统,其特征在于:包括标准测试环境、读写器发射天线、信号源发射天线、接收天线、电子标签、读写器天线支架、信号源天线支架、接收天线支架、待测读写器、信号源、频谱分析仪、控制计算机,其中读写器发射天线、信号源发射天线、接收天线、电子标签、读写器天线支架、信号源天线支架、接收天线支架置于标准测试环境的内部,待测读写器、信号源、频谱分析仪、控制计算机置于标准测试环境的外部,读写器发射天线置于读写器天线支架上,信号源发射天线置于信号源天线支架上,接收天线与电子标签相对置于接收天线支架上,接收天线放置于读写器发射天线和信号源发射天线的辐射面几何中心位置连线的中心位置,读写器发射天线与待测读写器、信号源发射天线与信号源、接收天线与频谱分析仪之间分别通过射频馈线相连,控制计算机向待测读写器发送读取单标签指令,读写器发射天线按照设定时间间隔发射电磁信号等待电子标签响应,控制计算机再向信号源发送控制指令,通过信号源发射天线发射功率和频率可控的干扰信号,频谱分析仪通过接收天线捕获标准测试环境中的电磁信号,当在同一时刻出现信号源的发射信号恰好在待测读写器发射的主信道或该主信道的邻道时进行触发,并通过控制计算机读取待测读写器的单标签读取结果,在控制计算机上判断本次读取是否正确,统计后再次发送控制指令至待测读写器和信号源,调整发射功率和频率后开始下一次测试。 |
地址 |
100080 北京市海淀区中关村东路95号 |