发明名称 电荷保持电路、测量时间信息的方法和形成EEPROM单元的方法
摘要 本发明涉及一种EEPROM存储器单元,包括双栅MOS晶体管,其中两个栅极(87、98)由绝缘层分隔开,其特征在于,绝缘层包括第一部分(89)和绝缘性比该第一部分弱的第二部分(96),该第二部分至少局部地位于该晶体管的沟道区之上。
申请公布号 CN101939824B 申请公布日期 2012.10.03
申请号 CN200880124549.4 申请日期 2008.12.31
申请人 意法半导体(鲁塞)公司 发明人 帕斯卡尔·弗那拉
分类号 H01L21/28(2006.01)I;H01L21/8247(2006.01)I;H01L27/115(2006.01)I;G04F10/10(2006.01)I;G11C16/04(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L29/51(2006.01)I 主分类号 H01L21/28(2006.01)I
代理机构 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人 杨生平;钟锦舜
主权项 一种用于时间测量的电荷保持电路,插接在EEPROM类型的存储器单元的网络中,每个所述EEPROM类型的存储器单元包括与双栅晶体管串联的选择晶体管,在同一行存储器单元上,所述电荷保持电路包括:由至少一个第一EEPROM类型的存储器单元形成的第一子集(C1),所述第一EEPROM类型的存储器单元包括第一双栅MOS晶体管,该双栅MOS晶体管的两个栅极(87、98)由绝缘层分隔开,其中所述绝缘层由第一部分(89)和绝缘性比该第一部分弱的第二部分(96)形成;和由至少一个第二EEPROM类型的存储器单元形成的第二子集,所述第二EEPROM类型的存储器单元包括第二双栅MOS晶体管(54),所述第二双栅MOS晶体管(54)的隧道窗口受到抑制;所述第一双栅MOS晶体管的浮置栅极和所述第二双栅MOS晶体管的浮置栅极被连接到浮置节点(F)。
地址 法国鲁塞