发明名称 被检查基板的对准装置
摘要 本发明提供一种被检查基板的对准装置。该被检查基板的对准装置对大型的被检查基板可靠地进行预对准。包括:Xθ轴工件载置台,支承被检查基板能在X轴方向上移动且能绕θ轴方向旋转;YZ轴接触载置台,构成为与该Xθ轴工件载置台分别独立的构件而沿Y轴方向架设;控制部,控制上述Xθ轴工件载置台及YZ轴接触载置台。上述控制部具有这样的功能,即,基于由上述YZ轴接触载置台侧的上述Y轴预对准传感器及至少2个上述X轴预对准传感器检测出的上述被检查基板的位置信息,控制上述Xθ轴工件载置台的上述θ轴旋转机构及X轴直线运动机构而使上述工作台在X轴方向上移动并使其适当地旋转,从而对该被检查基板进行预对准。
申请公布号 CN101739923B 申请公布日期 2012.10.03
申请号 CN200910209403.6 申请日期 2009.10.27
申请人 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 发明人 工藤隆善;小森隆行;今村晓;白户顺
分类号 G09G3/00(2006.01)I;G01R1/02(2006.01)I 主分类号 G09G3/00(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇;张会华
主权项 一种被检查基板的对准机构,其特征在于,包括:Xθ轴工件载置台,在X轴方向上延伸地构成,支承被检查基板使其能在X轴方向上移动且能绕θ轴方向旋转;YZ轴接触载置台,构成为与该Xθ轴工件载置台分别独立的构件,沿Y轴方向架设在该Xθ轴工件载置台的上方,支承X轴预对准传感器及Y轴预对准传感器使该X轴预对准传感器及Y轴预对准传感器能在Y轴方向及Z轴方向上移动;控制部,控制上述Xθ轴工件载置台及YZ轴接触载置台;上述Xθ轴工件载置台包括:架台,是在X轴方向上延伸的构架;工作台,支承上述被检查基板;θ轴旋转机构,设置在该工作台的下侧面,用于使工作台旋转;X轴直线运动机构,支承于上述架台,该X轴直线运动机构支承上述θ轴旋转机构,通过该θ轴旋转机构使上述工作台在X轴方向上移动;上述YZ轴接触载置台包括:支承臂部,沿Y轴方向架设在上述Xθ轴工件载置台的上方;Y轴直线运动机构,安装在该支承臂部而位于上述Xθ轴工件载置台的上方;多个接触载置板,被该Y轴直线运动机构支承为能在Y轴方向上移动;第一X轴预对准传感器,设置于该多个接触载置板中的一个端部侧的接触载置板,用于检测上述被检查基板的X轴方向位置;第二X轴预对准传感器及Y轴预对准传感器,设置于另一个 端部侧的接触载置板,其中,该第二X轴预对准传感器用于检测上述被检查基板的X轴方向位置,该Y轴预对准传感器用于检测上述被检查基板的Y轴方向的位置;Z轴直线运动机构,设置于上述多个接触载置板,支承具有与上述被检查基板上的电极接触的探针的测头组件能在Z轴方向上移动;上述控制部具有这样的功能,即,基于由上述YZ轴接触载置台侧的上述Y轴预对准传感器及至少上述第一X轴预对准传感器和上述第二X轴预对准传感器这2个X轴预对准传感器检测出的上述被检查基板的位置信息,控制上述Xθ轴工件载置台的上述θ轴旋转机构及X轴直线运动机构而使上述工作台在X轴方向上移动并使其适当地旋转,从而对该被检查基板进行预对准。
地址 日本东京都