发明名称 |
封装后电池片失效的检测方法 |
摘要 |
本发明涉及一种封装后电池片失效的检测方法,具有如下步骤:a)根据组件的I-V曲线判断组件异常类型,b)如果根据组件I-V曲线判断,组件存在电流问题引起的异常,组件通过EL测试判断疑似失效电池片的位置,测试疑似失效电池片以及相邻电池片的电流,根据电流临界值Im判测试过的电池片是否电流失效;c)如果根据组件I-V曲线判断,组件存在电压问题引起的异常,对组件中的每串进行分段测量,找出电压偏低的部分,找出电压偏低的部分后逐片测试电压偏低部分的电池片的电压,根据电压临界值Vm判断测试过的电池片是否电压失效。本发明的有益效果是:根据客户需求快速判断电池封装后的失效类型,保证组件电性能满足客户要求。 |
申请公布号 |
CN102707213A |
申请公布日期 |
2012.10.03 |
申请号 |
CN201210141796.3 |
申请日期 |
2012.05.08 |
申请人 |
常州天合光能有限公司 |
发明人 |
许贵军;叶红卫;王传邦;谭小春 |
分类号 |
G01R31/26(2006.01)I;G01R19/165(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2006.01)I |
代理机构 |
常州市维益专利事务所 32211 |
代理人 |
王凌霄 |
主权项 |
一种封装后电池片失效的检测方法,其特征是:具有如下步骤:a)根据组件的I‑V曲线判断组件异常类型,是电流问题引起的异常,还是电压问题引起的异常;b)如果根据组件I‑V曲线判断,组件存在电流问题引起的异常,组件通过EL测试判断疑似失效电池片的位置,测试疑似失效电池片以及相邻电池片的电流,根据电流临界值Im判测试过的电池片是否电流失效,电池片的电流大于Im,电池片正常,电池片的电流小于Im,电池片电流失效;c)如果根据组件I‑V曲线判断,组件存在电压问题引起的异常,对组件中的每串进行分段测量,找出电压偏低的部分,找出电压偏低的部分后逐片测试电压偏低部分的电池片的电压,根据电压临界值Vm判断测试过的电池片是否电压失效,电池片的电压大于Vm,电池片正常,电池片的电压小于Vm,电池片电压失效;得到Im和Vm的方法为:首先把同效率段的电池片在同等光源条件下辐照,测试在其正常工作并达到客户需求的最低功率Pm时,对应的电流值Im和电压值Vm,以Im和Vm作为临界值。 |
地址 |
213031 江苏省常州市新北区电子产业园天合路2号 |