发明名称 学装置、识别装置、学识别系统和学识别装置
摘要 所公开的学装置提高了图案识别中的识别精确度,也提高了学过程和识别过程的流畅性。学装置包括:梯度特征提取单元,其基于输入的学对象图案在每个坐标上的亮度与其周边的亮度之间的变化量提取包括每个坐标上的梯度方向及其梯度强度值的梯度特征量;和差特征提取单元,基于提取的梯度特征量,通过对符合包含在指示预定梯度方向的范围的预定梯度范围内的梯度方向的梯度强度值求和,并且从计算出的和值中减去符合包含在临近预定梯度范围的其他梯度范围内的梯度方向的梯度强度值,计算预定的和差特征量;以及学单元,使用梯度特征量以及和差特征量,基于预定学算法,获取每个坐标上的学参数。
申请公布号 CN102713974A 申请公布日期 2012.10.03
申请号 CN201080060941.4 申请日期 2010.12.24
申请人 日本电气株式会社 发明人 细井利宪
分类号 G06T7/00(2006.01)I 主分类号 G06T7/00(2006.01)I
代理机构 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人 宋鹤
主权项 一种学习装置,其特征在于包括:梯度特征提取单元,其基于输入的学习对象图案在每个坐标上的亮度与其周边的亮度之间的变化量提取包括每个坐标上的梯度方向及其梯度强度值的梯度特征量;和差特征提取单元,基于所提取的梯度特征量,通过对符合包含在指示预定梯度方向的范围的预定梯度范围内的梯度方向的梯度强度值求和,并且从所计算出的和值中减去符合包含在临近所述预定梯度范围的其他梯度范围内的梯度方向的所述梯度强度值,计算预定的和差特征量;学习单元,其使用所述梯度特征量和所述和差特征量,基于预定学习算法,获取每个坐标上的学习参数。
地址 日本东京都