发明名称 非晶碳基薄膜与金属基体间梯度过渡层的制备方法
摘要 本发明涉及一种非晶碳基薄膜与金属基体间梯度过渡层的制备方法。本方法采用溅射、反应溅射与射频或微波化学气相沉积法相结合的技术进行制备,所用设备包括一个或两个及以上的金属溅射靶,连接有射频或直流溅射电源;金属靶材为铬、钛、铜、铝、锰、钨、钼、铁、硅、锌、镁、锡、镍、钴、铟、锗和镓中的一种纯金属或含有其中至少一种元素的合金,采用两个或以上金属溅射靶时选用相同或不同的靶材;溅射气体为氩气或氦气;反应气体为室温下饱和蒸汽压在0.1Pa以上的有机化合物或含有氮、硅、硼、磷、硫、卤素或氧元素的化合物或氮气中的一种或两种及以上;金属基体通过样品台接有射频或微波电源,在进行溅射或反应溅射的同时,在金属基体上施加射频或微波功率。采用本方法制备梯度过渡层,可增加膜基结合力与薄膜致密度,从而提高薄膜的承载能力。
申请公布号 CN102703859A 申请公布日期 2012.10.03
申请号 CN201210196791.0 申请日期 2012.06.15
申请人 上海大学 发明人 吴行阳;黄一鸣;华子恺;张建华
分类号 C23C14/06(2006.01)I;C23C14/34(2006.01)I;C23C16/505(2006.01)I;C23C16/511(2006.01)I;C23C16/26(2006.01)I 主分类号 C23C14/06(2006.01)I
代理机构 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人 何文欣
主权项 一种非晶碳基薄膜与金属基体间的梯度过渡层的制备方法,其特征在于采用溅射、反应溅射与射频或微波化学气相沉积法相结合的技术进行制备,所用设备包括一个或两个及以上的金属溅射靶(2),连接有射频或直流溅射电源(1);金属靶材为铬、钛、铜、铝、锰、钨、钼、铁、硅、锌、镁、锡、镍、钴、铟、锗和镓中的一种纯金属或含有其中至少一种元素的合金,采用两个或以上金属溅射靶(2)时,采用相同或不同的靶材;溅射气体(3)为氩气或氦气;反应气体(4)为室温下饱和蒸汽压在0.1Pa以上的有机化合物,或含有氮、硅、硼、磷、硫、卤素或氧元素的化合物,或氮气中的一种或两种及以上;金属基体(7)通过样品台(5)接有射频或微波电源(6),在进行溅射或反应溅射的同时,在金属基体(7)上施加射频或微波功率。
地址 200444 上海市宝山区上大路99号