发明名称 在常温下快速测试集成电路的过温测试保护电路
摘要 本发明涉及一种在常温下快速测试集成电路的过温测试保护电路,其包括三极管,所述三极管的发射极端接地,三极管的基极端与发射极端间通过具有正温度系数的电阻相连;三极管的基极端、集电极端分别通过第二电流源、第一电流源与供电电压源相连,三极管的集电极端能输出状态信号;所述三极管的基极端还与用于接收外部测试控制信号及接收开关电源集成电路的过温测试信号的过温测试电流输入调节电路相连,所述过温测试电流输入调节电路与供电电压源相连;。本发明结构简单紧凑,降低测试成本,缩短测试时间,适应范围广,安全可靠。
申请公布号 CN102707223A 申请公布日期 2012.10.03
申请号 CN201210176293.X 申请日期 2012.05.31
申请人 无锡硅动力微电子股份有限公司 发明人 谭在超;朱勤为
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所 32104 代理人 曹祖良
主权项 一种在常温下快速测试集成电路的过温测试保护电路,包括三极管(109),所述三极管(109)的发射极端接地(113),三极管(109)的基极端与发射极端间通过具有正温度系数的电阻(108)相连;三极管(109)的基极端、集电极端分别通过第二电流源(103)、第一电流源(102)与供电电压源(101)相连,三极管(109)的集电极端能输出状态信号(110);第二电流源(103)输出的第一电流通过电阻(108)在三极管(109)的基极端得到第一电压,所述第一电压在预设过温保护温度值时能使得三极管(109)导通,以使得状态信号(110)为低电平;其特征是:所述三极管(109)的基极端还与用于接收外部测试控制信号(112)及接收开关电源集成电路的过温测试信号(111)的过温测试电流输入调节电路相连,所述过温测试电流输入调节电路与供电电压源(101)相连;过温测试电流输入调节电路能调节供电电压源(101)向三极管(109)的基极端输入所需的第二电流,第一电流及第二电流通过电阻(108)在三极管(109)的基极端得到第二电压;当过温测试电流输入调节电路仅接收过温测试信号(111)时,第二电压在常温下低于三极管(109)的导通电压,状态信号(110)为高电平;当过温测试电流输入调节电路同时接收过温测试信号(111)与外部测试控制信号(112)时,第二电压在常温下使得三极管(109)导通,状态信号(110)为低电平。
地址 214028 江苏省无锡市新区珠江路51号
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