发明名称 具有重力校正功能之质量测量装置
摘要 一种具有重力校正功能之质量测量装置,包含一重量感测器、一类比至数位转换单元、一加速度计,以及一控制单元,该重量感测器用以量测一待测物于一其所在地之一重量值,并输出代表该重量值之一类比重量讯号,该类比至数位转换单元电连接于该重量感测器,用以将该类比重量讯号转换为一数位重量讯号,该加速度计用以提供该所在地之一重力加速度值,该控制单元分别电连接于该类比至数位转换单元及该加速度计,用以依据该重力加速度值及该数位重量讯号运算出代表该待测物之质量值的一质量讯号。
申请公布号 TWI373609 申请公布日期 2012.10.01
申请号 TW097127303 申请日期 2008.07.18
申请人 宇权兴业股份有限公司 发明人 林武福
分类号 G01G23/01 主分类号 G01G23/01
代理机构 代理人 谢佩玲 台北市大安区罗斯福路2段107号12楼
主权项 一种具有重力校正功能之质量测量装置,包含:一重量感测器,用以量测一待测物于一其所在地之一重量值,并输出代表该重量值之一类比重量讯号;一类比至数位转换单元,电连接于该重量感测器,用以将该类比重量讯号转换为一数位重量讯号;一加速度计,用以提供该所在地之一重力加速度值;以及一控制单元,分别电连接于该类比至数位转换单元及该加速度计,用以依据该重力加速度值及该数位重量讯号运算出代表该待测物之质量值的一质量讯号。如申请专利范围第1项所述之具有重力校正功能之质量测量装置,其中该加速度计为微机电系统型式的一单轴加速度计、一双轴加速度计,或一三轴加速度计。如申请专利范围第1项所述之具有重力校正功能之质量测量装置,其中该控制单元为一微处理器或一微控制器。如申请专利范围第1项所述之具有重力校正功能之质量测量装置,更包含一与该控制单元电连接之输入单元,用以输入一驱动讯号使该控制单元驱动该加速度计提供该所在地之重力加速度。如申请专利范围第4项所述之具有重力校正功能之质量测量装置,其中该输入单元包含至少一按键。如申请专利范围第1项所述之具有重力校正功能之质量测量装置,更包含一电连接于该控制单元之显示器,用以接收该质量讯号以显示该待测物之质量值。如申请专利范围第1项所述之具有重力校正功能之质量测量装置,更包含一电连接于该控制单元并提供周边设备电连接的连接埠。
地址 新北市新店区宝兴路39号4楼