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一种晶体振荡器检测装置，包括第一及第二电晶体、一指示器、第一至第三电容、一第一二极体、第一及第二测试引脚，该第一测试引脚连接一电源，该第一电晶体之集极连接到该第一测试引脚，射极透过该指示器接地，该第一电晶体之基极连接到该第一二极体之阴极，该第一二极体之阳极依次透过该第一及第二电容与该第一测试引脚相连，该第二电晶体之射极连接在该第一及第二电容之间之节点，集极接地，基极连接到该第二测试引脚，该第三电容连接在该第二电晶体之基极与射极之间。如申请专利范围第1项所述之晶体振荡器检测装置，其中该电源与该第一测试引脚之间还连接一电源开关。如申请专利范围第2项所述之晶体振荡器检测装置，其中该第一及第二测试引脚与一晶体振荡器连接器之对应引脚相连，用于插接一晶体振荡器。如申请专利范围第3项所述之晶体振荡器检测装置，其中该电源开关、该指示器及该晶体振荡器连接器均设于一壳体上。如申请专利范围第1项所述之晶体振荡器检测装置，其中该指示器为一发光二极体或一蜂鸣器。如申请专利范围第1项所述之晶体振荡器检测装置，其中该第一电晶体之集极与基极之间还连接一第四电容。如申请专利范围第6项所述之晶体振荡器检测装置，其中该第一至第四电容之电容值分别为1000pF、150pF、680pF及0.0047μF。如申请专利范围第1项所述之晶体振荡器检测装置，其中该指示器与地之间还串联一第一电阻，该第一测试引脚与该第一及第二电容之节点之间还串联一第二电阻，该第二测试引脚与地之间还串联一第三电阻。如申请专利范围第8项所述之晶体振荡器检测装置，其中该第一至第三电阻之电阻值分别为100 Ω、1K Ω及30K Ω。如申请专利范围第1项所述之晶体振荡器检测装置，其中该第一二极体之阳极与该第一测试引脚之间还串联一第二二极体，且该第二二极体之阳极连接该第一测试引脚，阴极连接该第一二极体之阳极。 |
