用以量化因信号路径间之串扰引致的时序错误之方法及装置

摘要

在本案之一实施例中，数个刺激信号之每一个循序地被驱动至数条刺激信号路径上。该等数个刺激信号之每一个具有一触发边缘。在每一刺激信号被驱动至数条刺激信号路径上时，具有一感测器边缘之一遭受信号被驱动至一遭受信号路径上。在驱动对应之一刺激与遭受信号后，该遭受信号在信号感测器边缘或其附近的时序被抽样而使信号感测器边缘特征化。然后对应于不同刺激信号之感测器边缘特征被分析以将遭受信号路径与一条或多条遭受信号路径间之串扰所引致的时序错误加以量化。

主权项

一种用以量化时序错误的方法，其包含下列步骤：循序地驱动数个刺激信号之每一个至数条刺激信号路径上，其中该等数个刺激信号之每一个具有一触发边缘；在每一刺激信号被驱动至数条刺激信号路径上时，亦驱动具有一感测器边缘之一遭受信号至一遭受信号路径上；在驱动一对应刺激与遭受信号后，在该遭受信号之感测器边缘的时序或其附近的时序对该遭受信号抽样，藉以将该遭受信号之感测器边缘特征化；以及分析对应于不同刺激信号之该等感测器边缘特征以将该遭受信号路径与一条或多条刺激信号路径间之串扰所引致的一时序错误加以量化。如申请专利范围第1项所述之方法，其中该等信号样本包含电压。如申请专利范围第1项所述之方法，其中该等遭受信号在由该信号感测器边缘前到至少该信号感测器边缘之中间点延伸的数个点被抽样。如申请专利范围第3项所述之方法，其中每一遭受信号之感测器边缘藉由使用针对该信号之该等数个样本点而被特征化，来决定该信号感测器边缘的中间点之一时序。如申请专利范围第3项所述之方法，其中每一遭受信号进一步在由该信号感测器边缘后到至少该信号感测器边缘之中间点延伸的数个点被抽样。如申请专利范围第5项所述之方法，其中每一遭受信号之感测器边缘藉由下列步骤被特征化：使用由该信号感测器边缘前开始之样本点，来决定该信号感测器边缘的一中间点之一早期时序；以及使用由该信号感测器边缘后开始之样本点，来决定该信号感测器边缘的一中间点之一晚期时序。如申请专利范围第6项所述之方法，其中分析对应于该等不同刺激信号之该等感测器边缘特征以量化该遭受信号路径与一条或多条刺激信号路径间之串扰所引致的时序错误之步骤包含：比较该等遭受信号之感测器边缘的中间点之早期与晚期时序的描点图，以量化该遭受信号路径与一条或多条刺激信号路径间之串扰相关联的一尖峰对尖峰时序错误。如申请专利范围第1项所述之方法，其中每一遭受信号在由该信号感测器边缘后到至少该信号感测器边缘之中间点延伸的数个点被抽样。如申请专利范围第8项所述之方法，其中每一遭受信号之感测器边缘藉由使用针对该信号之该等数个样本点而被特征化，来决定该信号感测器边缘的中间点之一时序。如申请专利范围第1项所述之方法，进一步包含使用对应于一不正常之感测器边缘特征的刺激与遭受信号之触发边缘与感测器边缘时序中的差值，来定出该遭受信号路径与一条或多条刺激信号路径间之串扰的位置。如申请专利范围第1项所述之方法，其中各组对应的驱动信号包含：具有一上升触发边缘之一刺激信号与具有一上升感测器边缘之一遭受信号；具有一上升触发边缘之一刺激信号与具有一下降感测器边缘之一遭受信号；具有一下降触发边缘之一刺激信号与具有一上升感测器边缘之一遭受信号；以及具有一下降触发边缘之一刺激信号与具有一下降感测器边缘之一遭受信号。如申请专利范围第1项所述之方法，其中该等信号路径为一电路测试器之时序错误。如申请专利范围第12项所述之方法，进一步包含为该电路测试器之每一通道，在每次设定该电路测试器之一不同的通道作为该遭受信号路径时重复该等驱动、抽样与分析动作。如申请专利范围第1项所述之方法，其中至少一些刺激信号具有不同之触发边缘时序。如申请专利范围第14项所述之方法，其中该等遭受信号具有相同之感测器边缘时序。如申请专利范围第1项所述之方法，其中该等刺激信号具有相同之触发边缘时序。如申请专利范围第1项所述之方法，其中至少一些遭受信号具有不同之触发边缘时序。如申请专利范围第17项所述之方法，其中该等刺激信号具有相同之触发边缘时序。一种储存有序列指令的程式储存装置，该等指令在由一机器执行时造成该机器执行下列之动作：循序地驱动数个刺激信号之每一个至数条刺激信号路径上，其中该等数个刺激信号之每一个具有一触发边缘；在每一刺激信号被驱动至数条刺激信号路径上时，亦驱动具有一感测器边缘之一遭受信号至一遭受信号路径上；在驱动一对应刺激与遭受信号后，在该遭受信号之感测器边缘的时序或其附近的时序对该遭受信号抽样，藉以将该遭受信号之感测器边缘特征化；以及分析对应于不同刺激信号之该等感测器边缘特征，以将遭受信号路径与一条或多条刺激信号路径间之串扰所引致的时序错误加以量化。如申请专利范围第19项所述之程式储存装置，其中每一遭受信号在其感测器边缘的其中一侧之数个点被抽样。