| 摘要 |
Verfahren zur optischen Vermessung mindestens einer Zone einer Oberfläche eines Objektes mit Hilfe eines abbildenden Systems von geringer Tiefenschärfe, dadurch gekennzeichnet, daß a) das abbildende System so angeordnet ist, daß – der Winkel (α) zwischen der optische Achse (A) des abbildenden Systems (1) und der Oberfläche (5, 9, 11, 12, 14) maximal 45 Grad beträgt, – sich eine begrenzte Zone (7, 7a) der Oberfläche (5, 9, 11, 12, 14) innerhalb des Tiefenschärfebereiches des abbildenden Systems (1) befindet und durch dieses (1) als reelles Bild scharf abgebildet wird, wobei diese Zone (7, 7a) aufgrund der geringen Tiefenschärfe des abbildenden Systems (1) in Richtung der Projektion der optischen Achse (A) auf die Oberfläche (5, 9, 11, 12, 14) schmal ist, – der auf die Oberflächennormale (N) bezogene Ausfallswinkel (&bgr;) für alle Lichtstrahlen, die von der scharf abgebildeten Zone (7, 7a) ausgehen und in das abbildende System...
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