发明名称 负载驱动设备和半导体开关装置驱动设备
摘要 一种负载驱动设备包括开关装置(1)、栅极驱动电路(2)、箝位电路(3)、温度检测电路(4)和算术装置(5)。所述开关装置控制负载的电流供应的开关状态。所述栅极驱动电路通过控制开关装置的栅极电压来导通开关装置,使得开关装置工作在完全导通状态。所述箝位电路将所述开关装置的栅极电压钳位到箝位电压,所述箝位电压低于完全导通状态下的栅极电压并且高于镜像电压。所述温度检测电路检测开关装置的温度。所述算术装置基于检测的温度计算与所述镜像电压的变化对应的电压并且控制所述箝位电路中的箝位电压,从而使所述箝位电压等于所计算的电压。
申请公布号 CN102694531A 申请公布日期 2012.09.26
申请号 CN201210080800.X 申请日期 2012.03.23
申请人 株式会社电装 发明人 尾势朋久;滨中义行;千田康隆;三浦亮太郎;山本宪司
分类号 H03K17/08(2006.01)I;H03K17/567(2006.01)I 主分类号 H03K17/08(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 陈松涛;夏青
主权项 一种负载驱动设备,包括:开关装置(1),所述开关装置(1)控制负载的电流供应的开关状态;栅极驱动电路(2),所述栅极驱动电路(2)通过控制所述开关装置(1)的栅极电压来导通所述开关装置(1)并且向所述负载供应电流,使得所述开关装置(1)工作在所述开关装置(1)处于不饱和区域中的完全导通状态;箝位电路(3),所述箝位电路(3)将所述开关装置(1)的所述栅极电压钳位到箝位电压,所述箝位电压低于完全导通状态下的所述栅极电压并且高于镜像电压;温度检测电路(4),所述温度检测电路(4)检测所述开关装置(1)的温度;以及算术装置(5),所述算术装置(5)基于所述温度检测电路(4)检测的温度来计算与所述镜像电压的变化相对应的电压并且控制所述箝位电路(3)的所述箝位电压,从而使所述箝位电压等于所计算的电压。
地址 日本爱知县