发明名称 可选择阈值复位电路
摘要 一种低压测试电路(125),系统(100和200),以及用于在集成电路封装(104和204)中执行电路(127)的低压测试的方法,该集成电路封装包括可选择阈值复位电路(125),其包括产生电源电压的一部分电压的分压梯(320),比较该部分和参考电压的比较器(310),控制分压梯拓扑从而改变该部分的值的开关(350),开关由来自产品测试器(102和202)的信号控制,该信号导致可选择阈值复位电路的复位阈值降低到低于正常复位阈值以允许电路在低于正常复位阈值的电源电压处测试。
申请公布号 CN102692596A 申请公布日期 2012.09.26
申请号 CN201210079180.8 申请日期 2012.03.23
申请人 飞思卡尔半导体公司 发明人 W·E·爱德华兹
分类号 G01R31/28(2006.01)I;H03K17/22(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 叶勇
主权项 一种可选择阈值复位电路,其耦合到第一电源端和第二电源端,包括:分压电路,耦合到第一电源端和第二电源端,用于产生为第一电源端处电压一部分的VSENSE电压;比较器,具有耦合到分压电路的第一输入端,耦合到参考电压的第二输入端,和用于当第一电源端处的电压等于或小于可选择阈值复位电路的复位阈值时输出复位信号的输出端;以及开关,用于控制分压电路,该开关具有耦合到分压电路的第一开关端,耦合到第二电源端的第二开关端,和用于触发该开关的输入端,从而当开关处于第一状态并且第一电源端处于正常电压水平时,输出正常复位阈值的复位信号,以及当开关处于第二状态并且第一电源端处于低于正常电压水平的测试模式电压水平时,输出低于正常复位阈值的测试模式复位阈值的复位信号。
地址 美国得克萨斯