发明名称 用于核磁共振中计算局部比能量吸收率(SAR)的方法
摘要 一种基于对象的分割几何结构的电学参数和质量密度以及射频(RF)天线的磁场矢量分布计算局部比能量吸收率(SAR)的方法。电学参数和质量密度的值是预定值,而磁场矢量分布是通过基于磁共振(MR)扫描的磁场映射方法估计的。基于磁共振扫描的磁场映射方法可以是Bi映射方法。本发明还涉及一种磁共振系统,利用其能够在相对短时间段内计算SAR。本发明还涉及一种计算机程序,包括用于根据上述方法计算局部比能量吸收率(SAR)的指令。上述方法、系统和程序中使用的SAR计算是在相对短时间段内完成的,因此在临床环境中是可行的。
申请公布号 CN102695963A 申请公布日期 2012.09.26
申请号 CN201080060095.6 申请日期 2010.12.28
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 T·R·福格特;U·卡切尔;H·H·霍曼
分类号 G01R33/28(2006.01)I;G01R33/56(2006.01)I;G01R33/58(2006.01)I 主分类号 G01R33/28(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 王英;刘炳胜
主权项 一种用于基于对象的分割几何结构的电学参数和质量密度以及射频(RF)天线(16)的磁场矢量分布计算局部比能量吸收率(SAR)的方法,其特征在于,所述电学参数和所述质量密度的值是预定值,而所述磁场矢量分布是通过基于磁共振(MR)扫描的磁场映射方法来估计的。
地址 荷兰艾恩德霍芬