发明名称 TFT-LCD阵列基板及其制造方法和测试方法
摘要 本发明公开了一种TFT-LCD阵列基板及其制造方法和测试方法。所述TFT-LCD阵列基板,包括显示区域和外围区域,所述外围区域内设置有至少一条第一测试线和/或至少一条第二测试线,所述第一测试线平行于数据线,栅线和/或像素电极与至少一条所述第一测试线交叠;所述第二测试线平行于栅线,所述数据线与至少一条第二测试线交叠。本发明通过在外周区域设置测试线,有效解决现有技术不能对液晶面板内信号进行测试的技术缺陷。
申请公布号 CN101770122B 申请公布日期 2012.09.26
申请号 CN200810247424.2 申请日期 2008.12.31
申请人 北京京东方光电科技有限公司 发明人 赵继刚;徐宇博
分类号 G02F1/1362(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I;H01L21/84(2006.01)I;H01L27/12(2006.01)I 主分类号 G02F1/1362(2006.01)I
代理机构 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人 黄志华
主权项 一种TFT‑LCD阵列基板,包括显示区域和外围区域,其特征在于,所述外围区域内设置有至少一条第一测试线和至少一条第二测试线,所述第一测试线平行于数据线,栅线、像素电极和公共电极线与至少一条所述第一测试线交叠;所述第二测试线平行于栅线,所述数据线与至少一条第二测试线交叠;其中,所述交叠是指被一层或一层以上的绝缘薄膜隔开且在基板上的投影相互交叉。
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