发明名称 |
一种对处理器芯片进行在线检测的装置和方法 |
摘要 |
本发明公开了一种对处理器芯片进行在线检测的装置和方法。其装置包括JTAG接口和接入到JTAG接口的由处理器芯片内部扫描触发器连接所形成的扫描链;JTAG接口的TAP控制器包括一扩展检测控制模块,用于控制输入TCK时钟和输入的TMS产生扩展检测的时钟和扫描使能信号,控制处理器芯片内部的多个扫描触发器连成一条扫描链,和控制处理器芯片内部RAM端口的多个扫描触发器连成一条扫描链,并控制JTAG接口芯片的TDI和TDO端口分别连接到所述扫描链的扫描输入和扫描输出,在相应的检测模式下,通过控制TCK时钟扫描移位,进行处理器芯片1内部电路的检测。其对整个处理器芯片内部电路进行在线诊断和调试。 |
申请公布号 |
CN101719088B |
申请公布日期 |
2012.09.26 |
申请号 |
CN200910238043.2 |
申请日期 |
2009.11.23 |
申请人 |
龙芯中科技术有限公司 |
发明人 |
齐子初;明奎良;胡伟武 |
分类号 |
G06F11/267(2006.01)I;G01R31/3185(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/267(2006.01)I |
代理机构 |
北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 |
代理人 |
史霞 |
主权项 |
一种对处理器芯片进行在线检测的装置,包括JTAG接口,其特征在于,还包括接入到所述JTAG接口的由处理器芯片内部扫描触发器连接所形成的扫描链;所述JTAG接口的TAP控制器包括一扩展检测控制模块,用于利用TAP控制器内部的信号,控制输入TCK时钟和输入的TMS产尘扩展检测的时钟和扫描使能信号,控制处理器芯片内部的多个扫描触发器连成一条扫描链,和控制处理器芯片内部RAM端口的多个扫描触发器连成一条扫描链,并控制JTAG接口芯片的TDI和TDO端口分别连接到所述扫描链的扫描输入和扫描输出,在检测模式为触发器诊断模式,或者为RAM扫描读写模式下,通过控制TCK时钟扫描移位,进行处理器芯片内部电路的检测;当所述检测模式为触发器诊断模式时,对处理器芯片进行在线检测包括如下步骤:步骤A10,在处理器芯片运行的过程中,如果发生错误,通过JTAG接口的端口设置扩展指令寄存器为触发器诊断模式,执行触发器诊断指令,将处理器芯片内部的扫描触发器串成一条扫描链;步骤A20,控制测试模式选择信号TMS,使得Shift_DR信号有效,从而使得扫描信号SCA_EXT信号有效,控制JTAG接口的TDI和TDO端口分别连接到所述扫描链的扫描输入和扫描输出,在触发器诊断模式下进行处理器芯片内部电路的检测;步骤A30,控制TCK时钟,使得在扫描触发器的值通过TDO的端口一拍拍输出到芯片外部;当所述检测模式为RAM扫描读写模式时,对处理器芯片进行在线检测包括如下步骤:步骤B10,通过JTAG接口的端口设置扩展指令寄存器为RAM诊读写模式,执行RAM诊断指令,处理器芯片内部的RAM设置多个扫描触发器,这些扫描触发器处于RAM扫描读写模式下时,首尾相接串为一条RAM读写的扫描链;步骤B20,控制JTAG接口的TDI和TDO端口分别连接到所述扫描链的 扫描输入和扫描输出,在RAM扫描读写模式下,进行RAM读写检测。 |
地址 |
100080 北京市海淀区科学院南路10号 |