发明名称 |
具有光敏薄膜电晶体之大型光感测器 |
摘要 |
一种光感测器,包含有一基板,基板上设置一闸极线以及与闸极线相交之一读取线。一光感测元件设置于基板上,并与闸极线以及读取线电性连接。一开关元件设置于基板上,并与闸极线、读取线以及光感测元件电性连接。一遮光层则覆盖于基板上且遮蔽开关元件。 |
申请公布号 |
TWI373129 |
申请公布日期 |
2012.09.21 |
申请号 |
TW096145520 |
申请日期 |
2007.11.30 |
申请人 |
瀚宇彩晶股份有限公司 |
发明人 |
陈威州 |
分类号 |
H01L27/14 |
主分类号 |
H01L27/14 |
代理机构 |
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代理人 |
花瑞铭 高雄市前镇区中山二路7号14楼之1;金玉书 高雄市前镇区中山二路7号14楼之1 |
主权项 |
一种光感测器,其包含:一透明之基板;一闸极线,设置于该基板上;一读取线,设置于该基板上,并与该闸极线相交;一开关元件,设置于该基板上,并与该闸极线以及读取线电性连接;一光感测元件,设置于该基板上,与该闸极线电性连接,且透过该开关元件与该读取线电性连接,其中该光感测元件包含有一主动层及一不透明之闸极,该闸极系设置于该基板与该主动层之间,该闸极具有一开口,对应于该主动层;以及一遮光层,覆盖于该基板上,且遮蔽该开关元件。如申请专利范围第1项所述之光感测器,其中该遮光层系遮蔽该光感测元件。如申请专利范围第1项所述之光感测器,其中该开关元件系为一非晶矽薄膜电晶体。如申请专利范围第1项所述之光感测器,其中该光感测元件系为一非晶矽薄膜电晶体。如申请专利范围第1项所述之光感测器,其中该光感测元件包含有一第一金属层、一第二金属层、与一半导体层,该闸极系由该第一金属层所构成,该主动层则由该半导体层所构成。如申请专利范围第5项所述之光感测器,其中该光感测元件包含有一源极与一汲极,其皆由该第二金属层所构成。如申请专利范围第5项所述之光感测器,其中该半导体层系位于该第一金属层与该第二金属层之间。如申请专利范围第5项所述之光感测器,其中该光感测元件更包含一绝缘层。如申请专利范围第8项所述之光感测器,其中该绝缘层系位于该第一金属层与该半导体层之间。如申请专利范围第8项所述之光感测器,其中该绝缘层系位于该第一金属层与该第二金属层之间。如申请专利范围第5项所述之光感测器,其中该第一金属层系直接与该基板接触。如申请专利范围第5项所述之光感测器,更包含一保护层。如申请专利范围第5项所述之光感测器,其中该保护层系覆盖在该第二金属层上。 |
地址 |
桃园县杨梅市高狮路580号 |