| 主权项 |
一种最优功率校准方法，用于校准一光碟机之一光学读写单元之一最优功率，包含：(a)设定对应于一光碟之一初始功率；(a1)计算一预定数量之功率位准以涵盖该初始功率之一范围；以及(a2)利用每一功率位准执行记录程序；(b)于该记录程序中决定一伺服状态是否失效；(c)计算每一功率位准之记录性能；以及(c1)检查振幅小于一预定伺服门限值之复数个伺服讯号之数量；以及(c2)检查步骤(c1)之结果是否小于一第一预定数量；(d)依据每一功率位准之该伺服状态与该记录性能决定该最优功率。如申请专利范围第1项所述之最优功率校准方法，其中步骤(b)更包含：若于该记录程序中，若该伺服状态失效，则重复步骤(a2)。如申请专利范围第2项所述之最优功率校准方法，其中于重复执行步骤(a2)之前，更包含：决定一重试次数之数量；检查该重试次数之数量是否大于一第一预定重试次数；以及当该重试次数之数量大于该第一预定重试次数时，结束该记录程序。如申请专利范围第1项所述之最优功率校准方法，更包含：振幅小于该预定伺服门限值之该等伺服讯号之数量不小于一第二预定数量时，重复步骤(a2)。如申请专利范围第1项所述之最优功率校准方法，更包含：当振幅小于该预定伺服门限值之该等伺服讯号之振幅之数量小于一第二预定数量时，检查一第M个最小功率位准之伺服讯号之振幅是否小于该伺服门限值，其中M为一第三预定数量；以及若该第M个最小功率位准之伺服讯号之振幅小于该伺服门限值，则增大该初始功率。如申请专利范围第1项所述之最优功率校准方法，其中于步骤(d)之前更包含：检查复数个伺服讯号之一非对称变异是否大于一预定标准；以及若该非对称变异大于该预定标准，则重复步骤(a2)。如申请专利范围第1项所述之最优功率校准方法，更包含：将相关于该光碟一识别码之该最优功率之资讯储存于一记忆体。如申请专利范围第1项所述之最优功率校准方法，其中于步骤(d)之后，更包含：决定该最优功率是否位于一预定范围内；若该最优功率大于该预定范围，则增大该初始功率；以及若该最优功率小于该预定范围，则减小该初始功率。如申请专利范围第1项所述之最优功率校准方法，其中失效的伺服状态至少包括失焦、滑出目标轨道或发生不稳定转动速度之其中之一。一种最优功率校准系统，用于校准一光碟机之一光学读写单元的一最优功率，该系统包含：一微处理器，耦接于该光学读写单元，用于设定对应于一光碟之一初始功率，并藉由计算一预定数量之功率位准以涵盖该初始功率的一范围，以执行一记录程序；以及一讯号处理器，耦接于该微处理器，用于在记录程序中决定一伺服状态是否失效，并计算每一功率位准之记录性能，该讯号处理器检查振幅小于一预定伺服门限值之复数个伺服讯号之数量，并检查振幅小于该预定伺服门限值的该等伺服讯号之数量是否小于一第一预定数量；其中，该讯号处理器传送伺服状态与记录性能至该微处理器，以决定该最优功率。如申请专利范围第10项所述之最优功率校准系统，其中若该伺服状态被判定为失效，则该微处理器重复利用每一功率位准执行该记录程序。如申请专利范围第11项所述之最优功率校准系统，其中该微处理器决定最优功率校准之重试次数，检查该重试次数是否大于一第一预定重试次数，并于该重试次数大于该第一预定重试次数时，结束该记录程序。如申请专利范围第10项所述之最优功率校准系统，其中振幅小于该预定伺服门限值之该等伺服讯号之数量不小于一第二预定数量时，该微处理器重复利用每一功率位准执行记录程序。如申请专利范围第10项所述之最优功率校准系统，其中该讯号处理器于振幅小于该预定伺服门限值之该等伺服讯号之数量小于一第二预定数量时，检查一第M个最小功率位准之伺服讯号之振幅是否小于一伺服门限值；并且该讯号处理器于该第M个最小功率位准之伺服讯号之振幅小于该伺服门限值时，增大该初始功率；其中M为一第三预定数量。如申请专利范围第10项所述之最优功率校准系统，其中该讯号处理器检查复数个伺服讯号之一非对称变异是否大于一标准；当该非对称变异大于该标准时，微处理器重复利用每一功率位准执行该记录程序。如申请专利范围第10项所述之最优功率校准系统，还包括一记忆体，耦接于该微处理器，用于储存相关于该光碟之识别码之最优功率之资讯。如申请专利范围第10项所述之最优功率校准系统，其中该微处理器决定该最优功率是否位于一预定范围内；若该最优功率大于该预定范围，则该微处理器增大该初始功率；若该最优功率小于该预定范围，则该微处理器减小该初始功率。如申请专利范围第10项所述之最优功率校准系统，其中失效的伺服状态至少包括失焦、滑出目标轨道或不稳定转动速度发生之其中之一。 |
