发明名称 Tahrip edici olmayan denetleme yöntemi ve cihazı.
摘要 <p>Bir elementin yer aldigi bir esas yapinin tahrip edici olmayan sekilde denetlenmesine yönelik bir yöntem, esas yapiya, birinci bir ölçüm noktasindan ve ikinci bir ölçüm noktasindan geçen bir nötron isini verilmesinden; elemente özel bir rezonant nötron birinci ölçüm noktasindan geçtigindeki birinci bir zaman noktasindan sonra ve esas yapidan rezonant nötron tarafindan yayilan bir ani gama isini ikinci ölçüm noktasinda saptandigindaki ikinci bir zaman noktasindan önce geçen zamanin ölçülmesinden; ve elementin esas yapi içerisindeki yerinin birinci ölçüm noktasiyla, ikinci ölçüm noktasiyla, esas yapinin bir yüzeyine dogru göreli bir pozisyonla ve geçen zamanla belirlenmesinden olusur.</p>
申请公布号 TR201204075(T1) 申请公布日期 2012.09.21
申请号 TR20120004075T 申请日期 2010.10.13
申请人 IHI CORPORATION 发明人 HIROYUKI NOSE;TETSUYA KOBAYASHI;HAJIME KUWABARA
分类号 G01N23/22 主分类号 G01N23/22
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利