发明名称 Interpolydielektrikum in einer Abschirm-Gate-MOSFET-Vorrichtung
摘要 Beinhalten kann eine Einrichtung bei einem allgemeinen Aspekt ein Abschirmdielektrikum, das innerhalb eines Grabens angeordnet ist, der entlang einer Achse innerhalb einer Epitaxialschicht eines Halbleiters ausgerichtet ist, und eine Abschirmelektrode, die innerhalb des Abschirmdielektrikums angeordnet und entlang der Achse ausgerichtet ist. Beinhalten kann die Einrichtung ein erstes Interpolydielektrikum, das einen Abschnitt aufweist, der eine Ebene senkrecht zu der Achse schneidet, wo die Ebene die Abschirmelektrode schneidet, und ein zweites Interpolydielektrikum, das einen Abschnitt aufweist, der die Ebene schneidet und zwischen dem ersten Interpolydielektrikum und der Abschirmelektrode angeordnet ist. Die Einrichtung kann zudem ein Gate-Dielektrikum beinhalten, das einen Abschnitt aufweist, der an dem ersten Interpolydielektrikum angeordnet ist.
申请公布号 DE102012004084(A1) 申请公布日期 2012.09.20
申请号 DE20121004084 申请日期 2012.02.29
申请人 FAIRCHILD SEMICONDUCTOR CORP. 发明人 PROBST, DEAN E.
分类号 H01L29/78;H01L21/283;H01L21/336;H01L29/41 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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