| 发明名称 |
Einrichtung zum vergroesserten Abbilden von Gegenstaenden durch Elektronenstrahlen (Elektronenmikroskop) |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE916841(C) |
申请公布日期 |
1954.08.19 |
| 申请号 |
DE1932S025683D |
申请日期 |
1932.03.31 |
| 申请人 |
SIEMENS-SCHUCKERTWERKE AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
RUEDENBERG DR.-ING. REINHOLD |
| 分类号 |
A22B5/20;B27B5/22;F02M27/08;G01T1/20;H01J29/46;H01J29/62;H01J33/00;H01J37/04;H01J37/18;H01J37/22 |
主分类号 |
A22B5/20 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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