发明名称 光源检测装置
摘要 一种用于检测发光二极管光源的光源检测装置,包括基座、升降台,所述基座上设有电极,该升降台上形成有导电区域,所述升降台内装设有测试针,该测试针穿设于升降台并与导电区域连接固定,所述发光二极管光源包括发光二极管和电路板,该电路板上设有电路结构,该发光二极管装设于电路板上并与电路结构形成电性连接,该发光二极管光源装设于升降台上并与导电区域电性连接,所述升降台由弹性元件固定于基座上,通过下压该升降台使测试针与基座上的电极接触形成电性连接。对发光二极管的尺寸和形状不产生过多的限制性作用,故该光源检测装置可用来检测多种形状和尺寸的发光二极管光源。
申请公布号 CN102680913A 申请公布日期 2012.09.19
申请号 CN201110058159.5 申请日期 2011.03.11
申请人 展晶科技(深圳)有限公司;荣创能源科技股份有限公司 发明人 张超雄;柯志勋;詹勋伟
分类号 G01R31/44(2006.01)I 主分类号 G01R31/44(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种用于检测发光二极管光源的光源检测装置,包括基座、升降台以及固定元件,所述基座上设有电极,该升降台上形成有导电区域,其特征在于:所述升降台内装设有测试针,该测试针穿设于升降台并与导电区域连接固定,所述发光二极管光源包括发光二极管和电路板,该电路板上设有电路结构,该发光二极管装设于电路板上并与电路结构形成电性连接,该发光二极管光源装设于升降台上并与导电区域电性连接,所述升降台由弹性元件支撑于基座上,所述固定元件压持于电路板上并通过下压该升降台使弹性元件压缩,从而使测试针与基座上的电极接触形成电性连接。
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