发明名称 一种重力冲击可靠性测试方法
摘要 本发明提供了一种适用于电子产品的重力冲击可靠性测试方法,该方法包括首先对被测产品设置一个初始冲击响应脉冲宽度和初始冲击加速度,然后逐次增大加速度量并进行重力冲击测试,每次测试结束后判断当前被测产品的功能是否出现异常,通过测试结果来获得被测产品的实时操作极限、可操作极限、操作破坏界限、非包装破坏界限和包装产品破坏界限。本发明提供的重力冲击可靠性测试方法,可以使设计人员在各种重力冲击测试条件下获得电子产品在各种重力冲击条件下被测产品可靠性的缺陷,从而可以进行优化设计,提高电子产品的可靠性。本发明提供的重力冲击可靠性测试方法,还具有测试周期短,测试效率高的优点。
申请公布号 CN102680196A 申请公布日期 2012.09.19
申请号 CN201110053227.9 申请日期 2011.03.07
申请人 比亚迪股份有限公司 发明人 彭俊华;邢小兵;刘超锋
分类号 G01M7/08(2006.01)I 主分类号 G01M7/08(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种重力冲击可靠性测试方法,其特征在于,该方法包括如下步骤: A1.设置冲击响应脉冲宽度和初始冲击加速度;A2.将上述冲击响应脉冲宽度作为当前冲击响应脉冲宽度,初始冲击加速度作为当前冲击加速度对电子产品进行重力冲击测试;A3.在完成所述重力冲击测试后,判断所述电子产品的功能是否出现异常;如果是,则进入步骤A5,如果否,则进入步骤A4;A4.将当前冲击加速度增加一加速度变量后的值作为下一冲击加速度,将当前冲击响应脉冲宽度作为下一冲击响应脉冲宽度对电子产品进行重力冲击测试,并执行步骤A3; A5.记录当前重力冲击测试条件,将当前重力冲击测试条件作为所述电子产品的极限条件。
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