发明名称 双谱段电晕探测折反射全景光学系统
摘要 本发明涉及电晕探测技术的光学系统,是一种特别适用于240nm~280nm紫外谱段及460nm~610nm可见光谱段的双谱段电晕探测折反射全景光学系统,包括敷有反射紫外光分光膜的紫外/可见光分束镜、沿紫外/可见光分束镜的透射光路光轴设置的可见光中继镜和可见光探测器,沿紫外/可见光分束镜的反射光路光轴设置的紫外中继镜和紫外探测器;在所述的紫外/可见光分束镜的前方还设置一由具有中心孔的凹面反射镜和凸面反射镜构成的共轴反射镜组。该系统具有360°×(45°~90°)大视场、探测范围广、可提高探测效率的优点,可实现输电线路设备故障的实时监测,减轻人员操作负担。
申请公布号 CN101710208B 申请公布日期 2012.09.19
申请号 CN200910217900.0 申请日期 2009.11.24
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 金春水;王丽萍
分类号 G02B17/08(2006.01)I;G02B5/10(2006.01)I;G01R31/12(2006.01)I 主分类号 G02B17/08(2006.01)I
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人 赵炳仁
主权项 一种双谱段电晕探测折反射全景光学系统,包括敷有反射紫外光分光膜的紫外/可见光分束镜(3)、沿紫外/可见光分束镜(3)的透射光路光轴设置的可见光中继镜(6)和可见光探测器(7),沿紫外/可见光分束镜(3)的反射光路光轴设置的紫外中继镜(4)和紫外探测器(5),在紫外/可见光分束镜(3)的前方设置一由具有中心孔的凹面反射镜(1)和凸面反射镜(2)构成的共轴反射镜组;由离轴视场无遮拦地进入光学系统入瞳的光束,首先入射到反射镜组的凹面反射镜(1)上,反射后入射到反射镜组的凸面反射镜(2)上再次反射,反射光束穿过凹面反射镜(1)的中心孔进入所述的紫外/可见光分束镜(3),被紫外/可见光分束镜(3)分光后的可见光分束经所述的可见光中继镜(6)进入可见光探测器(7),紫外光束经所述的紫外中继镜(4)进入紫外探测器(5),其特征在于:所述由凹面反射镜(1)和凸面反射镜(2)构成的共轴反射镜组F/#反射=3.5、紫外中继镜(4)放大倍率β紫外=‑0.6、可见光中继镜(6)放大倍率β可见=‑0.4、凹面反射镜(1)半径R凹面=‑36.79mm、凸面反射镜(2)半径R凸面=‑34.78mm、共轴反射镜组镜间距d=40.5mm;所述F/#反射即f′反射镜组/D入瞳,所述紫外中继镜(4)中包含高带外截止深度的“日盲”紫外带通滤光片,以便降低太阳辐射背景噪声影响。
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